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논문 기본 정보

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학술대회자료
저자정보
박찬서 (한양대학교) 윤태열 (한양대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 2009년 하계종합학술대회
발행연도
2009.7
수록면
215 - 216 (2page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2009

적층형 칩 캐패시터의 고주파영역에서 측정시 디임베딩 방법
박찬서 ,  윤태열 대한전자공학회 학술대회 2009.07 학술대회자료
적층형 칩 캐패시터의 고주파영역에서 측정시 디임베딩 방법
박찬서 ,  윤태열 대한전자공학회 학술대회 2009.07 학술대회자료

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This paper presents a de-embedding technique for S-parameter measurement of multi-layer chip capacitors (MLCCs) up to 20 ㎓. This method eliminates ... 전체 초록 보기

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