Submicron MOSTransistor에서 Hot-Carrier에 의한 열화현상의 연구

최병진 ,  강광남

대한전기학회 학술대회 논문집

1987 .07

Submicron MOS 트랜지스터의 뜨거운 운반자에 의한 노쇠현상 ( Hot-Carrier-Induced Degradation in Submicron MOS Transistors )

최병진 ,  강광남

전자공학회논문지

1988 .07

Submicron Device에서의 Hot-Carrier 열화에 관한 연구

이용희 ,  김현호 ,  최영규 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

Submicron Device에서의 Hot-Carrier 열화에 관한 연구 ( A Study of Hot-Carrier Degradation on Submicron Device )

이용희 ,  김현호 ,  최영규 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

Submicron MOS Devices

Dong Hyuk Ju

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1991 .01

The Mobility Degradation by Hot-Carriers under AC / DC Stress in Very Thin Dielectric MOS Transistor

Yun Sik Jeong ,  Ji Chul Bae ,  Yong Jae Lee

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1995 .01

미세 트랜지스터에서 핫케리어에 의한 이동도 변화 ( Mobility Variation by Hot-Carrier in Submicron Transistor )

이용재 ,  배지철 ,  안점영

한국통신학회 학술대회논문집

1996 .01

Efficient Semi-Empirical I-V Model for Submicron LDD MOS Transistor

L. M. Chua ,  P. C. Liu

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

Modeling of Subthreshold Current for Submicron LDD MOS Transistor

Ley Mui Chua ,  Po Ching Liu

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1993 .01

A New Model Parameter Extraction Environment for the Submicron Circuit MOS Models

최창훈

KITE JOURNAL OF ELECTRONICS ENGINEERING

1993 .01

수치해석 방법에 의한 2차원적 MOS Transistors의 시뮬레이션에 관한 연구 ( Two-Dimensional Simulation of MOS Transistors Using Numerical Method )

정태성 ,  경종민

전자공학회지

1985 .09

Circuit Elements using Mos Transistors

김충기

대한전자공학회 단기강좌

1982 .01

Hot Carrier Degradation Depend on nLDD Structure on Submicron Device

Cheon Hee Yi ,  Kyong Hwan Woo ,  Yong Hui Lee 외 5명

ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications

1998 .01

Hot-Carrier Degradation Depend on nLDD Structure on Submicron Device

Yi ,  Cheon-Hee ,  Woo 외 13명

ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications

1998 .08

PLASMA ETCHING DAMAGE에 의한 MOS TRANSISTOR 열화현상

박태수 ,  조현진 ,  김영광 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1994 .01

MOS-Field Effect Transistor의 2차원적인 수학적 모델에 관한 연구 ( A Study on Two-Dimensional Mathematical Model of MOS-Field Effect Transistor )

오응기 ,  김홍배 ,  곽계달

대한전자공학회 학술대회

1983 .01

MOS Transistor를 이용한 차동증폭기 ( MOS Transistor Differential Amplifier )

이병선

전자공학회지

1968 .02

Time Dependent Hot-Carrier-Induced Interface State Generation in Deep Submicron LDD NMOSFETs

김시호 ,  이귀로

대한전자공학회 학술대회

1995 .01

Submicron Gate Structure의 신뢰성 및 노화현상에 관한 연구 ( Reliability and Degradation Phenomena of Submicron Gate Structure )

강광남 ,  이명복 ,  이정일

한국통신학회 학술대회논문집

1989 .01

Submicron Gate Structure의 신뢰성 및 노화현상에 관한 연구 ( Reliability and Degradation Phenomena of Submicron Gate Structure )

이명복 ,  이정일 ,  강광남

특정연구 결과 발표회 논문집

1989 .01