Efficient Semi-Empirical I-V Model for Submicron LDD MOS Transistor

L. M. Chua ,  P. C. Liu

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

Submicron MOS Transistor 에서 Hot-Carrier에 의한 열화현상의 연구 ( Hot-Carrier Induced Degradation in Submicron MOS Transistor )

최병진 ,  강광남

대한전자공학회 학술대회

1987 .07

DC 스트레스에 의해 노쇠화된 LDD MOSFET에서 문턱전압과 Subthreshold 전류곡선의 변화 ( The Shift of Threshold Voltage and Subthreshold Current Curve in LDD MOSFET Degraded Under Different DC Stress-Biases )

이명복 ,  이정일 ,  강광남

전자공학회논문지

1989 .05

Submicron MOS Devices

Dong Hyuk Ju

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1991 .01

Submicron MOS 트랜지스터의 뜨거운 운반자에 의한 노쇠현상 ( Hot-Carrier-Induced Degradation in Submicron MOS Transistors )

최병진 ,  강광남

전자공학회논문지

1988 .07

10 nm 이하 무접합 원통형 MOSFET의 온-오프전압ΔV_on-off에 대한 분석

정학기

전기전자학회논문지

2019 .03

TEMPERATURE DEPENDENCE OF THRESHOLD VOLTAGE FOR SUBMICRON P-AND N-CHANNEL LDD MOSFET DEVICES

Seog-Ju Oh

ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications

1993 .08

submicron LDD NMOSFET에서 back bias에 따른 transconductance 변화에 대한 연구

원명규 ,  구용서 ,  안철

대한전자공학회 학술대회

1999 .11

새로운 LDD 구조의 다결정 실리콘 박막 트랜지스터

황성수 ,  김동진 ,  김용상 외 3명

대한전기학회 학술대회 논문집

1997 .07

A New Model Parameter Extraction Environment for the Submicron Circuit MOS Models

최창훈

KITE JOURNAL OF ELECTRONICS ENGINEERING

1993 .01

Temperature Dependence of Threshold Voltage for Submicron P- and N- Channel LDD MOSFET Devices

Seog Ju Oh

International Conference on Electronics, Informations and Communications

1993 .01

LDD 소자 최적화의 실험적 고찰 ( An Experimental Investigation of LDD Device Optimization )

강대관 ,  김달수 ,  김현철 외 1명

전자공학회논문지

1990 .03

핫 캐리어 신뢰성 개선을 위한 새로운 LDD 구조에 대한 연구

장의구 ,  서용진 ,  김상용 외 1명

전기전자재료학회논문지

2002 .01

LDD 구조를 가진 다결정 실리콘 박막 트랜지스터에서의 열화 특성의 분석

정은식 ,  배지철 ,  정연식 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

2002 .11

LDD 구조를 이용한 다결정 실리콘 박막 트랜지스터의 신뢰성 향상

정은식 ,  장원수 ,  배지철 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2002 .06

Time Dependent Hot-Carrier-Induced Interface State Generation in Deep Submicron LDD NMOSFETs

김시호 ,  이귀로

대한전자공학회 학술대회

1995 .01

Polysilicon Thin Film Transistor for Improving Reliability using by LDD Structure

Eun-Sik Jung ,  Won-Su Jang ,  Ji-Chel Bea 외 1명

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2002 .07

수치해석 방법에 의한 2차원적 MOS Transistors의 시뮬레이션에 관한 연구 ( Two-Dimensional Simulation of MOS Transistors Using Numerical Method )

정태성 ,  경종민

전자공학회지

1985 .09

LDD MOSFET의 최적화에 관한 연구 ( Study on the Optimization of LDD MOSFET )

김달수 ,  박영준

전자공학회논문지

1987 .05