Submicron MOS Transistor 에서 Hot-Carrier에 의한 열화현상의 연구 ( Hot-Carrier Induced Degradation in Submicron MOS Transistor )

최병진 ,  강광남

대한전자공학회 학술대회

1987 .07

Submicron Device에서의 Hot-Carrier 열화에 관한 연구

이용희 ,  김현호 ,  최영규 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

Submicron Device에서의 Hot-Carrier 열화에 관한 연구 ( A Study of Hot-Carrier Degradation on Submicron Device )

이용희 ,  김현호 ,  최영규 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

Submicron MOS 트랜지스터의 뜨거운 운반자에 의한 노쇠현상 ( Hot-Carrier-Induced Degradation in Submicron MOS Transistors )

최병진 ,  강광남

전자공학회논문지

1988 .07

Submicron MOSTransistor에서 Hot-Carrier에 의한 열화현상의 연구

최병진 ,  강광남

대한전기학회 학술대회 논문집

1987 .07

The Mobility Degradation by Hot-Carriers under AC / DC Stress in Very Thin Dielectric MOS Transistor

Yun Sik Jeong ,  Ji Chul Bae ,  Yong Jae Lee

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1995 .01

전계효과 트랜지스터 ( FIELD-EFFECT TRANSISTOR )

김덕진

전자공학회지

1965 .07

피-모스 트랜지스터에서 열화에 의한 이동도 변화의 영향

정연식 ,  이용재

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

피-모스 트랜지스터에서 열화에 의한 이동도 변화의 영향 ( The Effects of Mobility Variation based on degradation of p-MOSFET's )

정연식 ,  이용재

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

패스-트랜지스터 논리회로에서의 트랜지스터의 최적 사이징 ( Optimal Transistor Sizing for Pass-Transistor Logic Circuits )

김갑수 ,  이영중 ,  정항근

한국통신학회 공개발표회 및 토론회

1997 .01

패스-트랜지스터 논리회로에서의 트랜지스터의 최적 사이징 ( Optimal Transistor Sizing for Pass-Transistor Logic Circuits )

김갑수 ,  이영중 ,  정항근

한국통신학회 학술대회논문집

1997 .01

고속 전자 이동도 트랜지스터의 2차원적 수치 시뮬레이션 ( Two-Dimensional Numerial Simulations of the High Electron Mobility Transistor )

윤경식 ,  김무성 ,  민석기

전자공학회논문지-B

1991 .08

박막 트랜지스터의 반송자 전도 ( Carrier Conduction of Thin Film Transistors )

마대영 ,  김기완

전자공학회지

1984 .11

박막 트랜지스터의 반송자 전도 ( Carrier Conduction of Thin Film Transistors )

마대영 ,  김기완

대한전자공학회 학술대회

1984 .01

SUBMICRON DEVICE RELIABILITY RESEARCH

Chenming Hu

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1989 .01

개선된 동작영역을 갖는 복합 트랜지스터 설계

이근호 ,  유영규

한국통신학회논문지

2003 .03

Hot-Carrier Degradation Depend on nLDD Structure on Submicron Device

Yi ,  Cheon-Hee ,  Woo 외 13명

ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications

1998 .08

Hot Carrier Degradation Depend on nLDD Structure on Submicron Device

Cheon Hee Yi ,  Kyong Hwan Woo ,  Yong Hui Lee 외 5명

ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications

1998 .01

Effect of Temperature Gradient on Electron Mobility in Submicron Silicon Devices

홍성준 ,  신형순 ,  이찬호 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1997 .01

Time Dependent Hot-Carrier-Induced Interface State Generation in Deep Submicron LDD NMOSFETs

김시호 ,  이귀로

대한전자공학회 학술대회

1995 .01