Submicron Gate Structure의 신뢰성 및 노화현상에 관한 연구 ( Reliability and Degradation Phenomena of Submicron Gate Structure )

강광남 ,  이명복 ,  이정일

한국통신학회 학술대회논문집

1989 .01

SUBMICRON DEVICE RELIABILITY RESEARCH

Chenming Hu

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1989 .01

Electrical properties and thermal stability of Al/$WN_x$/Ti submicron contact structure

Kim ,  Yong-Tae ,  Sim 외 3명

한국반도체및디스플레이장비학회 학술대회

2002 .01

Submicron 소자를 위한 고속열처리 공정 ( Rapid Thermal Processing for Submicron Devices )

김충기

특정연구 결과 발표회 논문집

1988 .01

Submicron 소자를 위한 고속열처리 공정 ( Rapid Thermal Processing for Submicron Devices )

김충기

한국통신학회 학술대회논문집

1988 .01

Submicron에서의 소자 기술 동향

신형순

전자공학회지

1991 .09

Submicron 이미지 분석을 이용한 수화물 분석방법

문주혁 ,  배성철

콘크리트학회지

2019 .05

Submicron Device에서의 Hot-Carrier 열화에 관한 연구

이용희 ,  김현호 ,  최영규 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

Submicron Device에서의 Hot-Carrier 열화에 관한 연구 ( A Study of Hot-Carrier Degradation on Submicron Device )

이용희 ,  김현호 ,  최영규 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

초고속 MMIC를 위한 Submicron T-Gate GaAs FET

황종승 ,  조용호 ,  권영세

대한전자공학회 학술대회

1995 .01

Fabrication of Ultrahigh-thick Submicron Structures

김광현 ,  유선영 ,  김성욱 외 5명

한국고분자학회 학술대회 연구논문 초록집

2017 .10

Submicron MOS Devices

Dong Hyuk Ju

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1991 .01

Deep Submicron PMOSFET의 Scaling 방법 ( Scaling Methodology of Deep Submicron P-MOSFET )

장성준 ,  김용택 ,  유종근 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .11

Deep submicron PMOSFET의 Scaling 방법

장성준 ,  김용택 ,  유종근 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .12

Submicron MOS 트랜지스터의 뜨거운 운반자에 의한 노쇠현상 ( Hot-Carrier-Induced Degradation in Submicron MOS Transistors )

최병진 ,  강광남

전자공학회논문지

1988 .07

Ion Beam Lithography for Submicron Structure Fabrication

백홍렬

대한전자공학회 워크샵

1989 .01

Submicron MOSTransistor에서 Hot-Carrier에 의한 열화현상의 연구

최병진 ,  강광남

대한전기학회 학술대회 논문집

1987 .07

Submicron 게이트 구조의 GaAs MESFET 제조 및 DC 특성 측정 ( Fabrication and DC characterization of submicron gate GaAs MESFET )

이유종 ,  엄경숙 ,  강광남

대한전자공학회 학술대회

1986 .01

Submicron 게이트 구조의 GaAs MESFET 제조 및 DC 특성 측정

이유종 ,  엄경숙 ,  강광남

대한전자공학회 학술대회

1986 .12

Reliability and Power Estimation of Deep Submicron VLSI Circuits

Ib ,  ahim Haji

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1997 .01