Testing High Density 3-D Memories

Kwang-Jin Lee ,  Cheol Kim ,  Suki Kim 외 2명

대한전자공학회 ISOCC

2005 .10

A New Test Algorithm for Bit-Line Sensitive Faults in High-Density Memories

Kang ,  Dong-Chual ,  Cho 외 1명

전기전자학회논문지

2001 .07

Test Patterns for Random Access Memories

Jae Hong Lee ,  Wayne E. Sta ,  k

TENCON 87 - Computers and Communications Technology Toward 2000

1997 .01

A New Test Algorithm for High - Density Memories

Dong-Chual Kang ,  Sang-Bock Cho

대한전자공학회 학술대회

2000 .11

이웃 패턴 감응 고장의 검출을 위한 효율적인 메모리 검사 알고리듬 ( An Efficient RAM Testing Algorithm for Detection Neighborhood Pattern Sensitive Faults )

이종철 ,  강용석 ,  강성호

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

내장된 자체 테스트 기법을 이용한 이웃 패턴 감응 고장 진단

양명훈 ,  이종철 ,  강용석 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

내장된 자체 테스트 기법을 이용한 이웃 패턴 감응 고장 진단 ( Neighborhood Pattern Sensitive Fault Diagnosis Using Built - In Self Test )

양명훈 ,  이종철 ,  강용석 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

An Effective Test and Diagnosis Algorithm for Dual-Port Memories

Youngkyu Pa ,  k ,  Myung-Hoon Yang 외 3명

[ETRI] ETRI Journal

2008 .08

Content Addressable Memory의 이웃패턴감응고장 테스트를 위한 내장된 자체 테스트 기법 ( Built-In Self Test for Testing Neighborhood Pattern Sensitive Faults in Content Addressable Memories )

강용석 ,  이종철 ,  강성호

전자공학회논문지-C

1998 .08

이웃 패턴 감응 고장의 검출을 위한 효응적인 메모리 검사 알고리듬

이종철 ,  강용석 ,  강성호

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

An Optimal Diagnosis Algorithm for Dual-Port Memories

Youngkyu Pa ,  k ,  Myung-Hoon Yang 외 3명

대한전자공학회 ISOCC

2006 .10

Testing of Memories with Tolerable Defects

Young Gap You

International Conference on Electronics, Informations and Communications

1991 .01

Built-In 테스트 방식을 이용한 RAM ( Random Access Memory ) 의 고장 검출 ( Fault Detection of Semiconductor Random Access Memories Using Built-In Testing Techniques )

김윤홍 ,  임인칠

전자공학회논문지

1990 .05

Integration Process and Reliability for SrBi₂ Ta₂O₉-based Ferroelectric Memories

Beelyong Yang ,  Seaung-Suk Lee ,  Young Min Kang 외 12명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2001 .09

Advanced Test Algorithm for Row / Column Pattern Sensitive Fault in RAMs

Chang Ki Lee ,  Byoung Sil Chon

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

주거환경의 네이버후드 영역적 특성 연구 : 서울 구로-가리봉동 일대를 중심으로

여혜진 ,  백세나

대한건축학회 논문집 - 계획계

2011 .04

An Effective Testing Algorithm for Memories Having Resistive Shorts and Opens

Dae Ik Kim ,  Sung Hwan Bae ,  Suk Kyu Yun 외 2명

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1996 .01

우리나라 대도시의 근린 변화 : 2000년~2010년 7대 대도시의 근린 유형 변화

이달별

국토계획

2018 .08

Efficient Built-In Redundancy Analysis for Embedded Memories with 2-D Redundancy

Shyue-Kung Lu ,  Han-Wen Lin ,  Yu-Cheng Tsai 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2004 .10

Double-Circuit Transmission Lines Fault location Algorithm for Single Line-to-Ground Fault

Xia Yang ,  Myeon-Song Choi ,  Seung-Jae Lee

Journal of Electrical Engineering & Technology

2007 .12