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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2011.11
- 수록면
- 1,101 - 1,105 (5page)
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초록· 키워드
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Radiation particles can introduce temporary errors in memory systems. To protect against these errors, so-called soft errors, error detection and correcting codes are used. In addition, scrubbing is applied which is a fundamental technique to avoid the accumulation of soft errors. This paper introduces an optimal scrubbing scheme, which is suitable for a system with auto error detection and correction logic. An auto error detection and correction logic can correct soft errors without CPU’s writing operation. The proposed scrubbing scheme leads to maximum reliability by considering both allowable scrubbing load and the periodic accesses to memory by the tasks running in the system.
목차
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 시스템 모델과 신뢰도 해석
Ⅲ. 최적 스크러빙 방안
Ⅳ. 적용 효과
Ⅴ. 결론
참고문헌
참고문헌 (13)
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1. [학술지(정기간행물)] - S. Karp / 1993 / Digital system design in the presence of single event upsets / IEEE Trans. Aerospace and Electronic Systems 29 (2) : 310 ~ 316
2. [학술지(정기간행물)] - R. Harboe-Sorensen / 2002 / Observation and analysis of single event effects on-board the SOHO satellite / IEEE Trans. Nuclear Science 49 (3) : 1345 ~ 1350
3. [학술지(정기간행물)] - A. Taber / 1993 / Single event upset in avionics / IEEE Trans. Nuclear Science 40 (2) : 120 ~ 126
4. [학술지(정기간행물)] - E. Normand / 1996 / Single event upset at ground level / IEEE Trans. Nuclear Science 43 (6) : 2742 ~ 2750
5. [단행본] - R. Morelos-Zaragoza / 2002 / The Art of Error Correcting Coding / Wiley
2. [학술지(정기간행물)] - R. Harboe-Sorensen / 2002 / Observation and analysis of single event effects on-board the SOHO satellite / IEEE Trans. Nuclear Science 49 (3) : 1345 ~ 1350
3. [학술지(정기간행물)] - A. Taber / 1993 / Single event upset in avionics / IEEE Trans. Nuclear Science 40 (2) : 120 ~ 126
4. [학술지(정기간행물)] - E. Normand / 1996 / Single event upset at ground level / IEEE Trans. Nuclear Science 43 (6) : 2742 ~ 2750
5. [단행본] - R. Morelos-Zaragoza / 2002 / The Art of Error Correcting Coding / Wiley
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