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저자정보
최유락 (한국원자력연구원) 이재철 (한국원자력연구원) 김재희 (한국원자력연구원) 김승호 (한국원자력연구원) 권오석 (충남대학교)
저널정보
한국멀티미디어학회 멀티미디어학회논문지 멀티미디어학회논문지 제16권 제6호
발행연도
2013.6
수록면
689 - 699 (11page)

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로봇 원격조종 방법은 1:1, 1:N, N:1, 그리고 N:N의 다양한 방법이 있다. 오퍼레이터가 원격지 로봇을 제어하기 위해서는 로봇의 주변 상황, 모바일 장치의 충돌 가능성, 그리고 매니퓰레이터의 힘을 인지할 수 있어야 한다. 원격조종에서는 데이터 통신과 처리에 소요되는 시간에 따른 지연이 발생하는데, 이 시간 지연은 로봇의 충돌과 햅틱 기반 제어에 있어 양방향 힘 반영에 따른 매니퓰레이터의 바이브레이션과 과도한 힘 반영을 초래할 수 있다. N:N 제어 방식은 근래 개발 중인 조종 기술로 멀티 오퍼레이터가 멀티 로봇을 스위칭하면서 제어하는 구조를 가진다. 이 구조를 구현하기 위해서는 오퍼레이터가 어떤 로봇을 제어할 것인지, 또는 그 로봇의 어떤 장치를 제어할 것인지에 대한 스위칭 기능이 필요하며, 다수의 오퍼레이터가 함께 원격조종을 수행할 때에는 이 스위칭 알고리즘이 반드시 필요하다. 또한 오퍼레이터의 성향에 따라 조종 성향이 달라지므로 이를 일반화하기위한 방안도 요구된다. 본 논문에서는 다수의 로봇과 다수의 오퍼레이터가 원격으로 로봇들을 제어하여 작업을 수행할 수 있는 햅틱 기반 제어 환경을 구축하는 방안과 구현에 대하여 기술한다.
#Tele-operating(원격조종) #Haptic Control(햅틱 제어) #Robot(로봇)

목차

요약
ABSTRACT
1. 서론
2. 원격 작업용 로봇 시스템 개발 동향
3. 로봇 원격 제어
4. N-to-N 원격조종 환경 개발
5. 제안 방식의 고찰
6. 결론
참고문헌

참고문헌 (23)

참고문헌 신청
1. [학술대회논문] - J. Leavey / 1998 / Mask and Wafer Inspection and Cleaning for Proximity x-ray Lithography / Proc. SPIE, Emerging Lithographic Technologies II 3331 : 179 ~ 188 google schola 2. [학술대회논문] - G. Ducotey / 2008 / “In-Line Methodology for Defectivity Analysis from Dark Field Wafer Inspection to Defect Root Cause Analysis Using FIB Cut / IEEE Advanced Semiconductor Manufacturing Conference(ASMC) : 138 ~ 141 google schola 3. [학술대회논문] - Y. C. Chen / 2011 / Implementation of a Wafer Positioning System / SICE Annual Conference 13 (18) : 1938 ~ 1943 google schola 4. [학술지(정기간행물)] - H. T. Kim / 2006 / The Wafer Alignment Algorithm Regardless of Rotational Center / IEEE Intenational Conference on Mechatronics 5 (13) : 44 ~ 48 google schola 5. [학술지(정기간행물)] - 이정우 / 2010 / 웨이퍼 클리닝 장비의 웨이퍼 장착 위치 인식 시스템 / 멀티미디어학회논문지 13 (3) : 400 ~ 409 dbpia

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