상용 p-MOSFET을 이용한 방사선 선량계 개발

이남호 ,  조재완 ,  김승호 외 1명

제어로봇시스템학회 각 지부별 자료집

1999 .12

PIN형 반도체 검출기 개발 실시간 방사선량 측정용

이봉재

동위원소회보

2004 .01

MOSFET 검출기의 방사선 측정 기법

노영환 ,  이상용 ,  강필현

정보 및 제어 논문집

2009 .05

δ 도핑된 Si_0.8Ge_0.2 0.13㎛ pMOSFET 소자 특성 조사

오순영 ,  남령진 ,  조남인

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

고감도 능동픽셀센서를 위한 PMOSFET 광검출기의 특성

박재현 ,  서상호 ,  이준규 외 4명

센서학회지

2003 .01

실시간 방사선량 측정용 PIN형 반도체 검출기 - 개발 경위와 향후 전망 -

김용균

원자력산업

2004 .01

0.1㎛ 레벨 PMOSFET의 소자 열화에 관한 연구 ( A Study on the Device Degradation with 0.1㎛ level PMOSFET )

홍성희 ,  이용수

한국통신학회논문지

1998 .11

방사선량 등을 정하는 기준

한국방사성동위원소협회

동위원소회보

1998 .01

내장된 전송 게이트를 가지는 PMOSFET형 광검출기를 사용한 픽셀의 동작 범위 향상

이수연 ,  서상호 ,  서민웅 외 4명

대한전자공학회 학술대회

2009 .07

게이트 전류를 이용한 SC-PMOSFET의 수명 시간 모델링 ( A Lifetime Modeling Using Gate Current for Surface-Channel PMOSFET`S )

정우표 ,  유동열 ,  양광선 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1992 .11

Gd-pMOSFET 열중성자 측정기 구현 및 감도개선

이남호 ,  김승호

대한전기학회 학술대회 논문집

2005 .10

Fabrication of 0.1mm Surface Channel pMOSFET

이영택 ,  유태종 ,  박병국 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1996 .01

법규제와 방사선량 - 왜 이렇게 어려운가

한국방사성동위원소협회

동위원소회보

2002 .01

Hot-Carrier로 인한 PMOSFET의 소자 수명시간 예측 모델링 ( II ) ( A Lifetime Prediction Modeling for PMOSFET degraded by Hot-Carrier ( II ) ) ( A Lifetime Prediction Modeling Using Gate Current for PMOSFET )

정우표 ,  류동렬 ,  양광선 외 2명

전자공학회논문지-A

1993 .09

MOSFET 선량계를 이용한 In-vivo 선량의 확인

강대규 ,  이광만

센서학회지

2006 .01

DC and RF Characteristics of Si_0.8Ge_0.2 pMOSFETs: Enhanced Operation Speed and Low 1/f Noise

Young-Joo Song ,  Kyu-Hwan Shim ,  Jin-Young Kang 외 1명

[ETRI] ETRI Journal

2003 .06

0.1 μm 표면 채널 GR - Pmosfet 의 스케일링에 관한 연구 ( A Study on the Scale - Down of 0.1μm Surface - Channel GR - Pmosfet )

허연철 ,  이우형 ,  박병국 외 2명

전자공학회논문지-A

1994 .11

반도체형 실시간 전자적 선량계 개발

이승민 ,  이흥호 ,  이남호 외 2명

대한전기학회 학술대회 논문집

2000 .11

δ 도핑된 Si0.8.Ge0.2 0.13μm PMOSFET 소자 특성 조사 ( Characterization of δ- Doped Si0.8.Ge0.2 0.13μm PMOSFETs )

오순영 ,  남형진 ,  조남인

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

SC-PMOSFET 의 수평 전계 모델과 노쇠화 메커니즘 ( Lateral Electric Field Model and Degradation Mechanism of Surface-Channel PMOSFET`s )

양광선 ,  박종태 ,  김봉렬

전자공학회논문지-A

1994 .01