반도체 Probe 공정에서의 생산능력계획

정봉주 ,  이영훈

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

1996 .10

반도체 Wafer Test 시 Probe Mark 정밀도 향상 방안 연구

손기복 ,  함상식 ,  최명택 외 6명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2012 .05

반도체 제조공정을 위한 새로운 생산일정 알고리즘

복진광 ,  이승권 ,  문성득 외 1명

제어로봇시스템학회 논문지

1998 .12

Plus(+) Point Probe를 이용한 용접부 와전류검사

이희종 ,  김용식 ,  남민우 외 2명

비파괴검사학회지

1999 .12

반도체 제조공정의 효율적 생산관리를 위한 시뮬레이터 개발

이영해 ,  정황근

산업공학 (IE interfaces)

1995 .11

Comparison of ECT Probes in Diagnosis of Defects

Ho-Young Mun ,  Chang-Eob Kim

Journal of Electrical Engineering & Technology

2014 .01

반도체 생산공정에서의 미립자 측정 및 분석 기술 ( Particle Measurement and Analysis in Semiconductor Manufacturing Process )

채승기

대한기계학회지

1995 .05

반도체 공정에서의 제조 원가 분석 모델

한주윤 ,  정봉주

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2001 .11

피로수명과 가공공차를 고려한 수직형 탐침의 형상 설계에 관한 연구

박종현 ,  이종길

한국소성가공학회 학술대회 논문집

2010 .05

단일 ZnO 나노선 4단자 소자의 전기적 특성

김강현 ,  강원 ,  임찬영 외 5명

전기전자재료학회논문지

2005 .01

마이크로 프로브 팁의 피로 특성 평가

신명수 ,  박준협 ,  서정윤

대한기계학회 춘추학술대회

2009 .04

반도체 공정에서의 환경친화형 프로세스

정해도 ,  김호윤

Journal of the Korean Society for Precision Engineering

2001 .09

반도체 산업의 생산관리 : 이론과 실제

이영훈 ,  김수영 ,  이관후 외 1명

산업공학 (IE interfaces)

1995 .11

고속 유동 내 입자 Sampling 용 Probe 개발

허내강 ,  안강호 ,  육세진

한국기계가공학회 춘추계학술대회 논문집

2016 .10

반도체 프로빙 공정 자동화를 위한 Man-Machine 인터페이스 개발

고명선 ,  김동원

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2001 .04

Fabrication of Silicon Micro-Probe for Vertical Probe Card Application

Yong Dae Kim ,  Jun Hwan Sim ,  Jae Woo Nam 외 1명

International Conference on Electronics, Informations and Communications

1998 .01

원전 증기발생기 세관 검사를 위한 와전류 탐상 프로브의 현황 및 전망

김지호 ,  이향범

한국정보통신설비학회 학술대회

2006 .01

고온에서 전기적인 Wafer 특성 검사 시 Probe Mark 변화 연구

김승완 ,  손기복 ,  김경호 외 1명

대한기계학회 춘추학술대회

2012 .11

채널의 효율적인 사용을 위한 Line Probing 기술

류재호 ,  이용환

한국정보과학회 학술발표논문집

1997 .04

채널의 효율적인 사용을 위한 Line Probing 기술 ( Line Probing Techniques for Efficient Channel Utilization )

류재호 ,  이용환

대한전자공학회 학술대회

1997 .01