채널의 효율적인 사용을 위한 Line Probing 기술

류재호 ,  이용환

한국정보과학회 학술발표논문집

1997 .04

Plus(+) Point Probe를 이용한 용접부 와전류검사

이희종 ,  김용식 ,  남민우 외 2명

비파괴검사학회지

1999 .12

Comparison of ECT Probes in Diagnosis of Defects

Ho-Young Mun ,  Chang-Eob Kim

Journal of Electrical Engineering & Technology

2014 .01

단일 ZnO 나노선 4단자 소자의 전기적 특성

김강현 ,  강원 ,  임찬영 외 5명

전기전자재료학회논문지

2005 .01

피로수명과 가공공차를 고려한 수직형 탐침의 형상 설계에 관한 연구

박종현 ,  이종길

한국소성가공학회 학술대회 논문집

2010 .05

고속 유동 내 입자 Sampling 용 Probe 개발

허내강 ,  안강호 ,  육세진

한국기계가공학회 춘추계학술대회 논문집

2016 .10

GE 7FA+e DLN-2.6 가스터빈 연소기에서의 on-line 동압 측정 시스템

허필원 ,  오정석 ,  윤영빈

KOSCO SYMPOSIUM 논문집

2008 .05

Fabrication of Silicon Micro-Probe for Vertical Probe Card Application

Yong Dae Kim ,  Jun Hwan Sim ,  Jae Woo Nam 외 1명

International Conference on Electronics, Informations and Communications

1998 .01

원전 증기발생기 세관 검사를 위한 와전류 탐상 프로브의 현황 및 전망

김지호 ,  이향범

한국정보통신설비학회 학술대회

2006 .01

Wafer Test 공정에서 Probing error 의 전기적 검출 방법에 관한 연구

김윤수 ,  김광현 ,  강인구 외 2명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2010 .05

반도체 Wafer Test 시 Probe Mark 정밀도 향상 방안 연구

손기복 ,  함상식 ,  최명택 외 6명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2012 .05

고밀도 프로빙 테스트를 위한 수직형 프로브카드의제작 및 특성분석

민철홍 ,  김태선

전기전자재료학회논문지

2006 .01

면적 저항 측정을 위한 Four Point Probe 자동화 시스템의 구현 ( Automatic System Development of 4-Point Probe for Sheet Resistance Measurement )

손승철 ,  송영진 ,  박화식 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1990 .01

고온에서 전기적인 Wafer 특성 검사 시 Probe Mark 변화 연구

김승완 ,  손기복 ,  김경호 외 1명

대한기계학회 춘추학술대회

2012 .11

수직 프로브 압축테스트를 통한 FE 모델연구

이진영 ,  임성한 ,  민동균 외 1명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2016 .05

Effects of Position of Auxiliary Probe on Ground Resistance Measurement Using Fall-of-Potential Method

Gil ,  Hyoung-Jun ,  Kim 외 7명

International Journal of Safety

2008 .01

무부하급가속검사방법을 이용한 디젤자동차의 매연프로브 성능에 관한 연구

김재열 ,  채일석 ,  오후석

한국기계가공학회지

2020 .09

Non-invasive direct probing for on-chip voltage measurement

Takashi Sato ,  Koh Yamanaga ,  Kazuya Masu

대한전자공학회 ISOCC

2008 .11

Probe Pin의 특성규명

심희수 ,  홍지선 ,  김선경

한국생산제조학회 학술발표대회 논문집

2014 .04