A New Scan Chain Fault Simulation for Scan Chain Diagnosis

Sunghoon Chun ,  Taejin Kim ,  Eun Sei Pa 외 2명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2007 .12

A Novel Symbolic Simulation for Scan Chain Diagnosis

Sunghoon Chun ,  Taejin Kim ,  Eunsei Pa 외 2명

대한전자공학회 ISOCC

2007 .10

Dynamically Changeable Secure Scan Architecture against Scan-Based Side Channel Attack

Yuta Atobe ,  Youhua Shi ,  Masao Yanagisawa 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2012 .11

An Adaptive Algorithm for Array System in the Presence of Faulty Element

Ki M. Kim ,  Il W. Cha ,  Dae H. Youn

Journal of Electrical Engineering and information Science

1996 .03

IEEE 1149.1 표준에 근거한 다중 클럭을 이용한 단일 캡쳐 스캔 설계에 적용되는 경계 주사 테스트 기법에 관한 연구

金吝洙 ,  閔炯福

전기학회논문지

2007 .05

Operation about Multiple Scan Chains based on System-on-Chip

Insoo Kim ,  Hyoung Bok Min

대한전자공학회 ISOCC

2008 .11

Application of Consensus Algorithm to Mate' for Identifying Faulty Sensor Node in Sensor Networks

Sung-Ho Kim ,  Hyeong-Joo Kim ,  Yun-Jong Han 외 1명

한국지능시스템학회 논문지

2005 .10

An intelligent sensor system with reconstruction mechanism of faulty signal

Young-Su Jung ,  Woong-keun Hyun ,  Inmo Yoon 외 3명

제어로봇시스템학회 국제학술대회 논문집

2003 .10

마코브 연산 기반의 함정 분산 제어망을 위한 실시간 고장 노드 탐지 기법 연구

노동희 ,  김동성

제어로봇시스템학회 논문지

2014 .11

Feature Extraction of Simulated Fault Signals in Stator Windings of a High Voltage Motor and Classification of Faulty Signals

In-Bum Jang ,  박재준

전기전자재료학회논문지

2005 .01

MY BOX REPRESENTATION FOR FAULTY CMOS CIRCUITS

Jwu E Chen ,  Chung Len Lee ,  Wen Zen Shen

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1989 .01

An Efficient Diagnosis Method using Pattern Comparison

Hyungjun Cho ,  Joohwan Lee ,  Yoseop Lim 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2006 .10

전자현미경 제어기의 스캔드라이버의 성능향상 방안

김동환 ,  김승재 ,  박만진 외 2명

대한기계학회 춘추학술대회

2008 .06

Zero-Scan-Back 기준 고도 생성 필터

황익호 ,  나원상

정보 및 제어 논문집

2007 .04

배터리 이상유무 검출에 관한 연구

공헌택 ,  유정봉 ,  강대수

정보 및 제어 논문집

2017 .04

Scan Cell Grouping Algorithm for Low Power Design

Insoo Kim ,  Hyoung Bok Min

Journal of Electrical Engineering & Technology

2008 .03

An Efficient Method of Path-Delay Test Generation for Standard Scan Designs

Yong Seok Kang ,  Sung Ho Kang

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1996 .01

Efficient Low-power Scan Test Method based on Exclusive Scan and Scan Chain Reordering

Dooyoung Kim ,  Jinuk Kim ,  Muhammad Ibtesam 외 4명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2020 .08

Four-Dynamic Partitioning of Scan Chains for Low Peak Power

Sang-Yong Lee ,  Insoo Kim ,  Chul-Ki Baek 외 3명

ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications

2010 .06

Daisy Chain Method for Control AllocationBased Fault-Tolerant Control

김지연 ,  양인석 ,  이동익

대한임베디드공학회논문지

2013 .01