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Seung-Bum Yuk (서경대학교) Jung-Man Son (서경대학교) Jin-Keun Koo (한국전자통신연구원) Jin-Yeong Kang (한국전자통신연구원) Yong-Seo Koo (서경대학교)
저널정보
대한전자공학회 ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications ITC-CSCC : 2007
발행연도
2007.7
수록면
1,495 - 1,496 (2page)

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A novel ESD protection device, namely, Lachup Immunity Low Voltage Triggered SCR, is suggested for high speed I/O interface. Proposed device can reduce latch up phenomenon than conventional LVTSCR in normal operating condition as structure that PMOS is inserted on conventional LVTSCR's nwell inside. The electrical characteristic of the device has been experimentally studied by numeri ... 전체 초록 보기

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