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은형래 (삼성전자) 임주환 (삼성전자) 홍영석 (삼성전자) 신재경 (삼성전자) 최민수 (고려대학교) 황성우 (고려대학교)
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대한전기학회 대한전기학회 학술대회 논문집 2009 대한전기학회 전기물성.응용부문회 Techno-Fair 및 추계학술대회 논문집
발행연도
2009.11
수록면
93 - 94 (2page)

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본 논문에서는 memory test를 위한 board PCB Power Distribution Network(PDN)의 Power Integrity(PI)특성을 분석하고 이를 개선하기 위한 방안을 제안한다. mobile Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory(DDR SDRAM)용 18 layer test board PCB를 1-p ... 전체 초록 보기

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