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이용수
Abstract
1. 서론
2. 본론
3. 결론
[참고문헌]
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중수소 이온 주입에 의한 MOS 커패시터의 게이트 산화막 절연 특성 개선
전기전자재료학회논문지
2011 .01
산화 분위기에 따른 게이트 산화막의 전기적 특성 분석 ( An Analysis of Electrical Characteristics of Gate Oxides by Oxidation Ambience )
대한전자공학회 학술대회
1993 .11
산화 분위기에 따른 게이트 산화막의 전기적 특성 분석
대한전자공학회 학술대회
1993 .11
Wet 게이트 산화막과 Nitride 산화막 소자의 특성에 관한 연구
대한전자공학회 학술대회
1999 .06
MOSFET 게이트 산화막내 결함 생성 억제를 위한 효과적인 중수소 이온 주입
전자공학회논문지-SD
2008 .07
플라즈마 이온주입법으로 질소 주입한 공구강 표면특성에 관한 연구
한국표면공학회 학술발표회 초록집
2004 .11
중수소 이온 주입된 게이트 산화막을 갖는 MOSFET의 전기적 특성
전자공학회논문지-SD
2010 .04
정전류 스트레스 하에서 게이트 산화막의 항복 특성 예측 ( Prediction of Gate Oxide Breakdown under Constant Current Stresses )
전자공학회논문지-A
1996 .07
비대칭형 무접합 이중게이트 MOSFET에서 산화막 두께와 문턱전압이동 관계
전기전자학회논문지
2020 .03
크롬강의 질소이온 주입에 따른 기계적 특성 변화
한국표면공학회 학술발표회 초록집
2006 .04
Tail 전자 Hydrodynamic 모델을 이용한 게이트 산화막 주입 시뮬레이션
대한전자공학회 학술대회
1995 .01
질소 이온 주입이 지르코늄 합금의 부식 거동에 미치는 영향
한국표면공학회 학술발표회 초록집
1995 .05
박막 게이트 산화막에 대한 Ru-Zr 금속 게이트의 신뢰성에 관한 연구
전기학회논문지 C
2004 .04
낮은 에너지의 As₂^(+) 이온 주입을 이용한 얕은 n^(+)-p 접합을 가진 70nm NMOSFET의 제작 ( 70nm NMOSFET Fabrication with Ultra-shallow n+-p Junctions Using Low Energy As₂^(+) Implantations )
전자공학회논문지-SD
2001 .02
플라즈마 질화산화막을 적용한 CMOSFET의 질소 농도에 따른 저주파 잡음 특성 분석
대한전자공학회 학술대회
2010 .06
Ti-Ploycide 게이트에서 게이트산화막의 전연파괴특성
한국재료학회지
1993 .01
열처리 효과가 질소이온주입후에 성장시킨 산화막의 QBD 특성에 미치는 영향 ( Annealing Effects on QBD of Ultra-Thin Gate Oxide Grown on Nitrogen Implanted Silicon )
전자공학회논문지-SD
2000 .03
질소이온주입이 Zircaloy-4의 고온부식 특성에 미치는 영향
한국표면공학회 학술발표회 초록집
1996 .11
비대칭 이중게이트 MOSFET에서 산화막 두께와 DIBL의 관계
한국정보통신학회논문지
2016 .04
이중게이트 MOSFET의 대칭 및 비대칭 산화막 구조에 대한 문턱전압 분석
한국정보통신학회논문지
2014 .12
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