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논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
박영규 (연세대학교) 박재석 (연세대학교) 강성호 (연세대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 2009년 SoC학술대회
발행연도
2009.5
수록면
134 - 137 (4page)

이용수

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본 논문에서 제안하는 마이크로 코드 방식의 프로그램 가능한 메모리 BIST(PMBIST) 구조는 다양한 테스트 알고리즘을 지원하다. 제안하는 싱글 포트 메모리를 위한 PMBIST(SPMBIST)는 March 알고리즘과 Walking과 Galloping 등의 non-March 알고리즘을 모두 지원하여 높은 flexibility와 고장 검출률을 가진다. 또한 SPMBIST는 최적화된 instruction을 사용하여 최소의 비트으로 알고리즘을 실행하여 최소의 하드웨어 오버헤드를 가진다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 제안하는 Single-port PMBIST
Ⅲ. SPMBIST의 성능 검증 및 비교
Ⅳ. 결론
Acknowledgements
참고문헌

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