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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2010.11
- 수록면
- 59 - 62 (4page)
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Programmable memory built-in self-tests (BIST) have increased test flexibility but result in large area overhead. In this research, a new finite state machine (FSM) based programmable memory BIST that can select march algorithms was proposed in order to overcome this problem. The proposed BIST efficiently generates various march algorithms utilizing an extended address counter while also taking into consideration the characteristics of the march algorithms. The experimental results of this research indicated that the proposed BIST improved test flexibility and resulted in a smaller area overhead, as compared to the results of previous studies.
목차
Abstract
Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. PROPOSED TEST PATTERN GENERATOR
Ⅲ. ARCHITECTURE OF MEMORY BIST
Ⅳ. EXPERIMENTAL RESULTS
Ⅴ. CONCLUSION
REFERENCES
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