P1838 표준의 Memory BIST를 재활용 한 3차원으로 적층 된 플랫 메모리 자체 테스트 기법

강동호 ,  박재석 ,  김일웅 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

2015 .01

A New Low Power BIST Architecture Based on Probability Models

HyeonUk Son ,  Youbean Kim ,  Kicheol Kim 외 2명

대한전자공학회 ISOCC

2007 .10

고장 모델 기반 메모리 BIST 회로 생성 시스템 설계

이정민 ,  심은성 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2005 .02

효율적인 캐쉬 테스트 알고리듬 및 BIST 구조 ( An Effective Cache Test Algorithm and BIST Architecture )

김홍식 ,  윤도현 ,  강성호

전자공학회논문지-C

1999 .12

연상 메모리를 위한 BIST 회로 설계에 관한 연구 ( A Study on design BIST Circuit for Content Addressable Memory )

정장원 ,  이주석 ,  고학림 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

1996 .01

플래시 메모리를 위한 유한 상태 머신 기반의 프로그래머블 자체 테스트

김지환 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2007 .06

입력신호 그룹화 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소 ( Test Time Reduction of BIST by Primary Input Grouping Method )

장윤석 ,  김동욱

전자공학회논문지-SD

2000 .08

데이터 패스 메가셀을 위한 BIST 구조 ( BIST Architecture for Datapath Megacells )

김형주 ,  손일헌

대한전자공학회 학술대회

1998 .11

데이터 패스 메가셀을 위한 BIST 구조

김형주 ,  손일헌

대한전자공학회 학술대회

1998 .11

An Efficient BIST Architecture for Boards with Multiple Scan Chains

Yong Tae Yim ,  Hyun Jin Kim ,  Sung Ho Kang

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1997 .01

혼합 모드 BIST 테스트 패턴 생성기

金弘植 ,  李抗圭 ,  姜成昊

전기학회논문지

1998 .07

Design of BIST Circuit for Content Addressable Memory

Kyeong Kap Paek ,  Joo Sock Lee ,  Nho Kyung Pa 외 2명

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1997 .01

분할 및 병렬 처리 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소

崔炳九 ,  金東郁

전기학회논문지 D

2000 .06

메모리의 PSF 테스트를 위한 BIST 구현 ( BIST implementation for testing PSF in memories )

김성무 ,  이중호 ,  조진규 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1993 .07

Service Oriented Architecture와 재사용

최은만

정보과학회지

2006 .11

An Efficient BIST (Built-in Self-test) for A/D converters

Kicheol Kim ,  Youbean Kim ,  Incheol Kim 외 2명

대한전자공학회 ISOCC

2007 .10

메모리에서 PSF 검출을 위한 알고리듬 및 BIST 설계 ( PSF detection algorithm and BIST design in memory )

이중호 ,  조상복

전자공학회논문지-A

1993 .01

메모리 테스트를 위한 BIST 기술

김대익 ,  배성환 ,  이창기 외 2명

전자공학회지

1995 .12

Fully Programmable Memory BIST for Commodity DRAMs

Ilwoong Kim ,  Woosik Jeong ,  Dongho Kang 외 1명

[ETRI] ETRI Journal

2015 .08

An Area Efficient Programmable Built-In Self-Test for Embedded Memories Using an Extended Address Counter

Kihyun Pa ,  k ,  Joohwan Lee 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2010 .11