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An inductively coupled plasma etching process to replace an existing slower rate reactive ion etching process for 60 ㎛ diameter via-holes using Cl2/BCl3 gases has been investigated. Process pressure and platen power were varied at a constant ICP coil power to reproduce the RIE etched 200 ㎛ deep via profile, at high etch rate. Desired etch profile was obtained at 40 mTorr pressure, 950 W coil power, 90W platen power with an etch rate ~ 4 ㎛/min and via etch yield >90% over a 3-inch wafer, using 24 ㎛ thick photoresist mask. The etch uniformity and reproducibility obtained for the process were better than 4%. The metallized via-hole dc resistance measured was ~ 0.5 Ω and via inductance value measured was ~ 83 pH.

목차

Abstract
Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. EXPERIMENTAL
Ⅲ. RESULTS AND DISCUSSION
Ⅳ. CONCLUSIONS
ACKNOWLEDGMENTS
REFERENCES

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