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한국생산제조학회 한국생산제조학회 학술발표대회 논문집 한국공작기계학회 2006 추계학술대회 논문집
발행연도
2006.5
수록면
298 - 302 (5page)

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Availability of defect test algorithm that recognizes exact and standardized defect information in order to fundamentally resolve generated defects in industrial sites by giving artificial intelligence to SAT(Scanning Acoustic Tomograph), which previously depended on operator’s decision, to find various defect information in a semiconductor package, to decide defect pattern, to reduce personal errors and then to standardize the test process was verified. In order to apply the algorithm to the lately emerging Neural Network theory, various weights were used to derive results for performance advancement plans of the defect test algorithm that promises excellent field applicability.
#Neural Network #Test Algorithm #Image Processing #Semiconductor Package #Performance Advancement

목차

Abstract
1. 서론
2. 회상 전처리
3. 검사 시스템
4. 평가 알고리즘
5. 평가 결과
6. 결론
참고문헌

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