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대한기계학회 대한기계학회 춘추학술대회 대한기계학회 2007년도 춘계학술대회 강연 및 논문 초록집
발행연도
2007.5
수록면
3,102 - 3,105 (4page)

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Hot spots on thin wafers of IC packages are becoming important issues in thermal and electrical engineering fields. To investigate these hot spots, we developed a Diode Temperature Sensor Array (DTSA) that consists of an array of 32 × 32 diodes (1,024 diodes) in a 8 ㎜ × 8 ㎜ surface area. To know specifically the hot spot temperature which is affected by the chip thickness and a generated power, we made the DTSA chips, which have 21.5 ㎛, 31 ㎛, 42 ㎛, 100 ㎛, 200 ㎛, and 400 ㎛ thickness using the CMP process. And we conducted the experiment using various heater power conditions (0.2 W, 0.3 W, 0.4 W, 0.5 W). In order to validate experimental results, we performed a numerical simulation. Errors between experimental results and numerical data are less than 4%. Finally, we proposed a correlation for the hot spot temperature as a function of the generated power and the wafer thickness based on the results of the experiment. This correlation can give an easy estimate of the hot spot temperature for flip chip packaging when the wafer thickness and the generated power are given.

목차

Abstract
1. Introduction
2. The design and fabrication of DTSA
3. Results and Discussion
4. Conclusion
Acknowledgement
Reference

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-550-016789395