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한국진공학회 한국진공학회 학술발표회초록집 한국진공학회 제10회 학술발표회논문개요집
발행연도
1996.2
수록면
26 - 27 (2page)

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Both high electron mobility and high carrier concentration In_(0.75)Ga_(0.25)As/In_(0.65)Al_(0.35)As heterostructure have been fabricated on InP substrate by MBE. The measured electron mobility were 10,700 ㎠/V.s at 300K and 45,000 ㎠/V.s at 77K for a 2DEG concentrations of 4.7×10¹² ㎠ and 4.5×10¹² /㎠. The high elecrton mobility and concentration were resulted from the dislocation-free, relatively thick (200Å), and high indium content (75%) channel layer. The high quality In_(0.75)Ga_(0.25)As channel layer was successfuly grown at the growth temperatur ... 전체 초록 보기

목차

Abstract

1. 서론

2. 실험

3. 결과 및 논의

4. 결론

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