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Korean Institute of Information Scientists and Engineers 한국정보과학회 학술발표논문집 한국정보과학회 1984년도 봄 학술발표논문집 제11권 제1호
발행연도
1984.4
수록면
345 - 351 (7page)

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본 논문은 internal fanout-free 인 조합논리회로에서의 고착형 다중결함 검출셋트를 발생시키는 간단한 알고리즘을 제시한다.
n개의 입력을 갖는 게이트에서의 모든 다중결함을 검출하기 위해서는 최소한 (n+1)개의 테스트가 필요하다. 이러한 개념을 회로 내의 모든 게이트에 적용하여 각각의 게이트를 최종 출력 게이트로 하는 subnetwork의 결함검출셋트를 발생시킴으로써 전체회로의 결함검출셋트를 구한다.

목차

요약

Ⅰ. 서론

Ⅱ. 단 결함의 검출

Ⅲ. 다중 결함의 검출

Ⅵ. 결론

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