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TFT-LCD 영상에서 결함은 일반적으로 배경과 비교하여 밝기 차이가 큰 특징을 사용하여 검출된다. 본 논문에서는 휘도 차에 따른 결함 가능성이 높은 순으로 결함을 검출하는 순차적 결함 검출 방법을 제안한다. 제안한 방법은 배경과의 휘도 차가 큰 결함은 정확히 검출하고, 배경과의 휘도 차가 작은 결함인 한도결함도보다 신뢰있게 검출하여 과검출을 최소화할 수 있다. 실험을 통해 제안한 방법은 배경과의 휘도 차가 큰 결함뿐만 아니라 한도결함에 대해서도 우수한 검출 결과를 나타냄을 확인하였다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 결함 가능성에 따른 순차적 결함 검출
Ⅲ. 실험 및 고찰
Ⅳ. 결론
REFERENCES
참고문헌 (8)
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J. Jang / 2002 / Technology development and production of flat panel displays in Korea / Proceedings of the IEEE 90(4):501~513
손상욱 / 2008 / 편광필름 결함검출을 위한 영상처리기법 / 전자공학회논문지 - IE 45(2):20~27
고정환 / 2011 / BEP기반의 신경회로망을 이용한 LCD 패널 결함 검출 / 전자공학회논문지 - IE 48(2):26~31
Yu-Chiang Chuang / 2009 / Automatic TFT-LCD Mura Inspection Based on Studentized Residuals in Regression Analysis / Industrial Engineering & Management Systems 8(3):148~154
G. B. Lee / 2006 / Adaptive surface fitting for inspection of FPD devices using multilevel B-spline approximation / 21st International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications 2:205~208
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G. B. Lee / 2006 / Adaptive surface fitting for inspection of FPD devices using multilevel B-spline approximation / 21st International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications 2:205~208
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