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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2005.8
- 수록면
- 7 - 14 (8page)
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본 논문은 새로운 저전력 BIST 패턴 생성기에 대해 제안하고 있다. 이는 천이 감시 윈도우 블록과 MUX로 구성된 천이 감시 윈도우를 사용하는데, LFSR(linear feedback shift register)에서 생성되는 무작위 테스트 패턴의 패턴 천이 수 분포가 유사 무작위 가우시안(pseudo-random gaussian) 분포를 보이는 성질을 이용한다. 제안된 방식에서 천이 감시 윈도우는 스캔 체인에서 높은 전력 소모의 원인이 되는 초과 천이를 감지하고, k-value라는 억제 천이 수를 통해 초과 천이를 억제하는 역할을 한다. ISCAS'89 벤치마크 회로 중 많은 수의 스캔 입력을 갖는 회로를 사용하여 실험한 결과, 성능 손실 없이 약 60%정도의 스캔 천이 수 감소를 나타내었다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 랜덤 패턴의 천이 분포 특성
Ⅲ. 천이 감시 윈도우의 크기와 k-value 설정
Ⅳ. 저전력을 위한 부가적인 회로
Ⅴ. 실험 결과
Ⅵ. 결론
참고문헌
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참고문헌 (15)
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[학술지(정기간행물)] - Nan-Cheng Lai / 2002 / A Reseeding Technique for LFSR-Based BIST Applications : 200 ~ 205
[학술지(정기간행물)] - Seongmoon Wang / 2002 / Generation of Low Power Dissipation and High Fault Coverage Patterns for Scan-Based BIST : 834 ~ 843
[학술지(정기간행물)] - Xiaodong Zhang / 2000 / Peak Power Reduction in Low Power BIST : 425 ~ 432
[학술지(정기간행물)] - S. Wang / 1997 / A New BIST TPG for Low Heat Dissipation : 848 ~ 857
[학술지(정기간행물)] - X. Zhang / 1999 / A Tool for Energy Conscious Weighted Random Pattern Testing : 416 ~ 422
[학술지(정기간행물)] - Seongmoon Wang / 2002 / Generation of Low Power Dissipation and High Fault Coverage Patterns for Scan-Based BIST : 834 ~ 843
[학술지(정기간행물)] - Xiaodong Zhang / 2000 / Peak Power Reduction in Low Power BIST : 425 ~ 432
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