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대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 전자공학회논문지 SD편 제40권 제1호
발행연도
2003.1
수록면
52 - 60 (9page)

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IEEE 1149.1 경계스캔 IP 코아로 설계된 시스템 칩(SoC)을 테스트하기 위하여 각 코아 간의 다양한 연결을 가능하게 하는 설계 기술이 IBM과 TI 등에서 제안되었다. 본 논문은 기존에 제안된 방식의 문제점을 분석하고 IEEE 1149.1 경계스캔 뿐만 아니라 IEEE P1500 래퍼 코아가 포함된 시스템 칩에서 사용할 수 있는 새로운 구조를 제안한다. 본 설계 기술은 최소한의 추가영역으로 코아의 설계변경 없이 IEEE 1149.1 표준과 호환성을 유지하면서 확장성을 갖고 계층적으로 테스트 접근을 할 수 있다는 장점이 있다.

목차

Ⅰ. 서론

Ⅱ. Link Controllers for IEEE 1149.53


Ⅲ. IEEE P1500 Wrapped Cores

Ⅳ. 플래그 기반 Wrapped Core Linking Module

Ⅴ. 기존 방식들과 플래그 기반 WCLM의 비교 분석

Ⅵ. 결론

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