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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 저널정보
- Korean Institute of Information Scientists and Engineers 정보과학회논문지 : 시스템 및 이론 정보과학회논문지 : 시스템 및 이론 제36권 제1호
- 발행연도
- 2009.2
- 수록면
- 33 - 39 (7page)
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본 논문은 Advanced Encryption Standard(AES) 암호화 코아가 내장된 System-on-a-Chip(SoC)의 스캔 기반 사이드 채널 공격에 의해 발생될 수 있는 비밀 키 정보 누출 방지를 위한 효과적인 시큐어 스캔 기술을 제안한다. 본 논문에서 제안하는 시큐어 스캔 설계 기술은 어플리케이션에 최적화 되어있는 암호화 IP 코아를 수정하지 않고 적용을 할 수 있다. 또한 SoC 상의 IEEE1149.1 제어기 표준을 유지하며 기존 방식보다 적은 면적 오버헤드와 전력 소모 및 높은 고장 검출율을 갖는 기술을 제안한다.
목차
요약
Abstract
1. 서론
2. AES 키 정보 누출 방지를 위한 스캔 테스트 설계 기술
3. 제안하는 시큐어 스캔 설계기술
4. 실험결과
5. 결론
참고문헌
참고문헌 (8)
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1. [학술지(정기간행물)] - S. Mangard / 2004 / A Highly Regular and Scalable AES Hardware Architecture / IEEE Transactions on Computer 52 (1) : 483 ~ 491
2. [학술대회논문] - D. Josephson / 2001 / Debug methodology for the McKinley processor / International Test Conference : 451 ~ 460
3. [학술대회논문] - R. Kapoor / 2004 / Security vs. test quality: Are they mutually exclusive? / International Test Conference : 1414 ~
4. [학술대회논문] - J. Lee / 2006 / A Low-Cost Solution for Protecting IPs Against Scan-Based Side-Channel Attacks / VLSI Test Symposium : 94 ~ 99
5. [학술대회논문] - B. Yang / 2004 / Scan Based Side Channel Attack on Dedicated Hardware Implementations of Data Encryption Standard / International Test Conference : 339 ~ 344
2. [학술대회논문] - D. Josephson / 2001 / Debug methodology for the McKinley processor / International Test Conference : 451 ~ 460
3. [학술대회논문] - R. Kapoor / 2004 / Security vs. test quality: Are they mutually exclusive? / International Test Conference : 1414 ~
4. [학술대회논문] - J. Lee / 2006 / A Low-Cost Solution for Protecting IPs Against Scan-Based Side-Channel Attacks / VLSI Test Symposium : 94 ~ 99
5. [학술대회논문] - B. Yang / 2004 / Scan Based Side Channel Attack on Dedicated Hardware Implementations of Data Encryption Standard / International Test Conference : 339 ~ 344
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