저전력 소모와 테스트 용이성을 고려한 회로 설계 ( A Study on Low Power and Design-For-Testability Techniques of Digital IC )

이종원 ,  손윤식 ,  정정화 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

저전력 소모와 테스트 용이성을 고려한 회로 설계

이종원 ,  손윤식 ,  정정화 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

신호선의 상관관계를 고려한 개선된 테스트용이도 분석 알고리즘

김윤홍

한국산학기술학회 논문지

2003 .03

RTL 회로를 위한 테스트 용이도 기반 비주사 설계 기법

김성일 ,  양선웅 ,  김문준 외 3명

정보과학회논문지 : 시스템 및 이론

2003 .02

천연가스의 임계유동함수 불확도 평가

하영철

대한기계학회 논문집 B권

2014 .07

학습 정보를 이용한 테스트 용이도 척도의 계산

김지호 ,  배두현 ,  송오영 외 2명

전자공학회논문지-SD

2004 .05

횡류팬 내부의 유동해석

이형건 ,  박형구

한국전산유체공학회 학술대회논문집

2002 .05

An Efficient Technique to Improve Compession for Low-Power Scan Test Data

송재훈 ,  김두영 ,  김기태 외 1명

전자공학회논문지-SD

2006 .10

천연가스 유량 측정에서 헬름홀츠 자유에너지를 이용한 임계유동함수 계산

하영철 ,  허재영

대한기계학회 논문집 B권

2013 .12

단일 정현파 신호를 이용한 CMOS 연산 중폭기의 새로운 테스트 기법

한석봉 ,  윤원효 ,  김윤도 외 2명

한국정보과학회 학술발표논문집

1998 .10

논리회로의 고장진단을 위한 퍼지테스트생성 기법

조재희 ,  강성수 ,  김용기

한국지능시스템학회 학술발표 논문집

1996 .11

Reduction of Test Data and Power in Scan Testing for Digital Circuits using the Code-based Technique

허용민 ,  신재흥

전자공학회논문지-IE

2008 .09

개선된 테스트 용이화를 위한 점진적 개선 방식의 데이타 경로 합성 알고리즘

김태환 ,  정기석

정보과학회논문지 : 시스템 및 이론

2002 .06

테스트 데이터와 전력소비 단축을 위한 저비용 SOC 테스트 기법

허용민 ,  인치호

전자공학회논문지-SD

2004 .12

테스트 에이전트 시스템 설계

최정은 ,  최병주

한국정보과학회 학술발표논문집

1999 .04

테스트 용이도를 이용한 조합 회로의 효율적인 로보스트 경로 지연 고장 테스트 생성 ( Efficient Robust Path Delay Fault Test Generation for Combinational Circuits Using the Testability Measure )

허용민 ,  임인칠

전자공학회논문지-A

1996 .02

회로의 대칭성을 이용한 다단계 논리 회로 회로에서의 전력 최소화 기법

정기석 ,  김태환

정보과학회논문지 : 시스템 및 이론

2003 .10

논리계통의 회로측정방식 연구 ( Testability measurement for the digital systems )

김용득

대한전자공학회 학술대회

1980 .01

패킷 필터링 기능 테스트를 위한 테스트 도구 개발

김현수 ,  박영대 ,  국승학

정보과학회논문지 : 컴퓨팅의 실제 및 레터

2007 .04

디지탈 논리회로에 대한 효율적인 테스트 패턴 생성 알고리듬 ( An Efficient Test Generation Algorithm for Digital Logic Circuits )

김윤홍 ,  임인칠

전자공학회논문지-A

1991 .02