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한국산학기술학회 한국산학기술학회 논문지 한국산학기술학회논문지 제4권 제1호
발행연도
2003.3
수록면
7 - 12 (6page)

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테스트용이도(testability) 분석은 논리회로에서 발생하는 stuck-at 고장을 테스트하는 것이 어느 정도 어려운가를 예측 평가하기 위한 목적에서 이루어진다. 좋은 테스트용이도 분석 프로그램이 있다면， 회로의 테스트용이도를 개선하기 위한 좋은 방안을 회로 설계자들에게 사전에 제시해줌으로써, 테스트 문제에 미리 대비할 수 있도록 해준다. 그 동안 테스트용이도 분석을 효율적으로 수행하기 위한 연구가 있었다. 그러나 COP이나 SCOAP과 같은 가존의 대표적인 테스트용이도 분석 알고리즘들은 트리 구조를 갖는 회로의 경우에 각 stuck-at 고장의 테스트용이도 값을 효율적으로 계산할 수 있으나, 일반적 인 구조의 회로에 대해서는 정확도가 떨어진다. 그 이유는 테스트용이도 분석을 선형적인 시간 내에 수행하기 위해서, 각 신 호신들은 재수렴 팬아웃(reconvergent fanout)으로 인한 상관관계가 없는 것으로 가정하기 때문이다. 본 논문에서는 테스트용 이단 분석을 위해 신호선 상관관계를 고려한 개선된 방법을 제안한다. 제안된 방법에서는， 회로 내에서 재수렴 팬아웃과 이에 영향을 받는 게이트들에 대한 정보를 사전에 파약하기 위한 재수렴 팬아웃 분석 알고리즘을 이용하여, 재수렴 팬아웃으로 인한 효과를 테스트용이도 분석에 반영함으로써 정확도를 높이고 있다.
#signal correlation #SCOAP #testability

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