RTL수준의 데이터패스 모듈을 위한 상위 수준 테스트 합성 기법

김성일 ,  김석윤 ,  장훈

한국정보과학회 학술발표논문집

2000 .10

신호선의 상관관계를 고려한 개선된 테스트용이도 분석 알고리즘

김윤홍

한국산학기술학회 논문지

2003 .03

RTLS 성능 테스트에 관한 연구

김진원 ,  전준수

한국통신학회 학술대회논문집

2010 .11

학습 정보를 이용한 테스트 용이도 척도의 계산

김지호 ,  배두현 ,  송오영 외 2명

전자공학회논문지-SD

2004 .05

개선된 테스트 용이화를 위한 점진적 개선 방식의 데이타 경로 합성 알고리즘

김태환 ,  정기석

정보과학회논문지 : 시스템 및 이론

2002 .06

Design for Testability

유영갑

한국통신학회 워크샵

1986 .01

Signal Integrity 연결선 테스트용 다중천이 패턴 생성방안

김용준 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2008 .10

Testability를 이용한 검사패턴 생성에 관한 연구 ( A Study on the Test Pattern Generation Using Testability )

김진문 ,  송원국 ,  이강현 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1990 .07

Design for Testability를 위한 검사방식

이강현 ,  김용득

전자공학회지

1992 .01

구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  박경태 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계 ( A Unification of Structural Analysis And Testabilities For a Partial Scan Design )

박종욱 ,  박경택 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

테스트 에이전트 시스템 설계

최정은 ,  최병주

한국정보과학회 학술발표논문집

1999 .04

저전력 소모와 테스트 용이성을 고려한 회로 설계

이종원 ,  손윤식 ,  정정화 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

저전력 소모와 테스트 용이성을 고려한 회로 설계 ( A Study on Low Power and Design-For-Testability Techniques of Digital IC )

이종원 ,  손윤식 ,  정정화 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

테스트 용이도를 이용한 조합 회로의 효율적인 로보스트 경로 지연 고장 테스트 생성 ( Efficient Robust Path Delay Fault Test Generation for Combinational Circuits Using the Testability Measure )

허용민 ,  임인칠

전자공학회논문지-A

1996 .02

제어 회로를 위한 효율적인 비주사 DFT 기법

심재헌 ,  김문준 ,  박재흥 외 2명

전자공학회논문지-SD

2003 .11

주파수 특성을 이용한 내장된 CMOS 연산증폭기의 테스트 방식 및 테스트를 고려한 설계

송근호 ,  김은동 ,  김남균 외 4명

대한전자공학회 기타 간행물

2001 .11

단일 정현파 신호를 이용한 CMOS 연산 중폭기의 새로운 테스트 기법

한석봉 ,  윤원효 ,  김윤도 외 2명

한국정보과학회 학술발표논문집

1998 .10

VHDL에 의한 테스트 용이화 설계방식의 순서회로 모델링 ( Modeling of Sequential Circuits for Design-for-Testability using VHDL )

엄태호 ,  이재민

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

컴포넌트의 테스트가능성 향상을 위한 래퍼 설계와 구현

송호진 ,  최은만

한국정보과학회 학술발표논문집

2003 .10