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I. 서론
II. 장비 및 측정방법
III. 결과 및 고찰
IV. 결론
REFERENCES
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저에너지 이온분광용 기체이온전리함(gas ionization chamber, GIC) 제작
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조직몰입에 대한 사람중심 접근: 국내 직장인들의 조직몰입 프로파일 분석
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First ion beam commissioning using 28GHz superconducting electron cyclotron resonance ion source for heavy ion accelerator
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Matrix effects for mixed organic layers in Ar cluster ion depth profiles
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Fundamental Study of Impurity Depth Profile by Secondary Ion Mass Spectrometer
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2021 .02
Atomic layer deposition of high-k dielectrics on graphene through controlled Ar+ Ion beam process
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ICP 식각 공정에서의 컨택홀의 기울어진 식각 프로파일
한국진공학회 학술발표회초록집
2017 .08
Preliminary study on implantation of hydrogen ion into SUS 316L and It’s depth profiles
한국분석과학회 학술대회
2017 .11
비충돌 쉬스에서의 이온에너지 분포함수 계단식 형상 분석
한국진공학회 학술발표회초록집
2020 .02
Modification of electronic properties of graphene by using low-energy K+ ions
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2016 .08
자동 배열식 지진분석 기법 개발과 적용
대한지질학회 학술대회
2023 .11
C₃F6O 가스를 이용한 SiO₂에 대한 식각 특성 분석
한국진공학회 학술발표회초록집
2017 .08
The first extraction of multiple charge state heavy ion beam from 28GHz superconducting electron cyclotron resonance ion source at KBSI
한국진공학회 학술발표회초록집
2015 .02
Dipole Model to Predict the Rectangular Defect on Ferromagnetic Pipe
Journal of Magnetics
2016 .09
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