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A Study on Impurity Depth Profile by Secondary Ion Mass Spectrometer
한국진공학회 학술발표회초록집
2020 .08
대형 이차이온질량분석기를 이용한 태양계 최초 물질의 26Al-26Mg 동위원소 시스템 연구
한국암석학회 학술발표회 논문집
2019 .05
A New Approach to Surface Imaging by Nano Secondary Ion Mass Spectrometry
한국진공학회 학술발표회초록집
2016 .02
Determination of sub nm organic surface contaminations on functional glass substrate by time of flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS)
한국분석과학회 학술대회
2016 .11
Observation of sn-interferences on the uranium isotope analysis using secondary ion mass spectrometry (SIMS)
한국분석과학회 학술대회
2017 .11
Round-robin test for the measurement of layer thickness of multilayer films by secondary ion mass spectrometry depth profiling
한국진공학회 학술발표회초록집
2016 .08
Large geometry-Secondary Ion Mass Spectrometry (LG-SIMS) 분석결과에 기반한 미신고 핵활동 평가
한국분석과학회 학술대회
2020 .06
Modification of electronic properties of graphene by using low-energy K+ ions
한국진공학회 학술발표회초록집
2016 .08
Crystal orientation and morphology of Ag nanoclusters grown on the hydrogen-terminated Si(111)-(1×1) surface
한국진공학회 학술발표회초록집
2016 .08
Nonlinear etching process of hydrogen-terminated Si(110)-(1×1) surfaces
한국진공학회 학술발표회초록집
2016 .08
Discrimination analysis of production year of rice based on mass spectrometer
한국분석과학회 학술대회
2017 .11
High velocity ion transmission characteristics in Quadrupole mass spectrometer
한국진공학회 학술발표회초록집
2017 .08
Matrix effects for mixed organic layers in Ar cluster ion depth profiles
한국진공학회 학술발표회초록집
2016 .08
Adsorption materials profiling for fine particles using Gas Chromatograph-Mass Spectrometer
한국분석과학회 학술대회
2019 .11
Application of multimodal surfaces using amorphous silicon (a-Si) thin film for secondary ion mass spectrometry (SIMS) and laser desorption/ionization mass spectrometry (LDI-MS)
한국진공학회 학술발표회초록집
2016 .02
Preliminary study on implantation of hydrogen ion into SUS 316L and It’s depth profiles
한국분석과학회 학술대회
2017 .11
The Conceptual Design of Gas Cluster Ion Source for Analytical Equipment
한국진공학회 학술발표회초록집
2015 .02
Quantification of impurities in silicon oxide by radio frequency glow discharge mass spectrometer
한국분석과학회 학술대회
2019 .11
A study on the Analysis of Doping Concentration Distribution using SIMS method after Ion Implantation into Silicon Carbide
한국분석과학회 학술대회
2020 .06
Time of flight -energy spectrometer for the mass-energy spectroscopy of the elastic recoils by heavy ion incidence
한국진공학회 학술발표회초록집
2016 .08
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