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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
문광현 (명지대학교) 김영철 (한화시스템) 강남욱 (한화시스템) 박영민 (한화시스템) 장동원 (명지대학교)
저널정보
(사)한국CDE학회 한국CDE학회 논문집 한국CDE학회 논문집 제29권 제3호
발행연도
2024.9
수록면
255 - 266 (12page)
DOI
10.7315/CDE.2024.255

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This study applies condition-based maintenance plus (CBM+) to single-board computers (SBCs), specifically the Raspberry Pi 4 and MVME6100. To implement CBM+, environmental accelerated testing was conducted to acquire degradation data. The tests included temperature-humidity cycling and CPU load stress, carried out throughout 3 to 6 months. No failures were observed during the temperature-humidity cycling test, indicating the need for continued experimentation. Conversely, failures occurred during the CPU load test, and these data were utilized to train a Long Short-Term Memory (LSTM) neural network for condition prediction. The LSTM model achieved a prediction accuracy of 99%. To enhance the reliability of the neural network and to improve remaining useful life (RUL) predictions, further accelerated testing until the failure of additional SBCs is necessary. This research highlights the potential of CBM+, leveraging environmental stress data and advanced neural network models, to predict and manage the health of SBCs with high precision.

목차

ABSTRACT
1. 서론
2. 전장품 상태기반정비
3. 연구방법론
4. 결과
5. 결론 및 고찰
References

참고문헌 (54)

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