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학술저널
저자정보
Tae Soo Jeong (Jeonbuk National University) Hyeoncheol Kim (Jeonbuk National University) Sukill Kang (Jeonbuk National University) Kyu-Hwan Shim (Jeonbuk National University) Taek Sung Kim (Jeonbuk National University)
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.21 No.3
발행연도
2021.6
수록면
206 - 214 (9page)
DOI
10.5573/JSTS.2021.21.3.206

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The strain effects in strained GaAs<SUB>1-x</SUB>N<SUB>x</SUB> epilayers are characterized by Raman spectroscopy and photocurrent spectra at various nitrogen composition. In addition, the nitrogen composition and the strain were determined by using high-resolution X-ray diffraction (HR-XRD). The Raman spectra are observed to be dominated by the GaAs-like longitudinal optical (LO) phonon mode as the strongest peaks show up around 289~294 cm<SUP>-1</SUP>. Moreover, the weak and broad peaks features in the range of 255~276 cm<SUP>-1</SUP> originate from the peaks of GaAs-like transverse optical (TO) phonon mode and disorder induced, GaN-like LO. And the Raman peak shifts toward lower wave number with increasing nitrogen compositions, which is indicates the presence of tensile strain in the strained GaAs<SUB>1-x</SUB>N<SUB>x</SUB> epilayers. The valence-band splitting of GaAs<SUB>1-x</SUB>N<SUB>x</SUB> are obtained from photocurrent spectra. As the nitrogen concentration increases, the tensile strain in strained GaAs<SUB>1-x</SUB>N<SUB>x</SUB> epilayers increases while the valence-band splitting increases.

목차

Abstract
I. INTRODUCTION
II. EXPERIMENT
III. RESULTS AND DISCUSSION
IV. CONCLUSIONS
REFERENCES

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