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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
김희철 (남서울대학교 산업경영공학과)
저널정보
한국정보기술전략혁신학회 정보학연구 정보학연구 제10권 제2호
발행연도
2007.1
수록면
47 - 64 (18page)

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Finite failure NHPP models presented in the literature exhibit either constant, monotonic increasing or monotonic decreasing failure occurrence rates per fault. Accurate predictions of software release times, and estimation of the reliability and availability of a software product require quantification of a critical element of the software testing process : test coverage. This model called enhanced non-homogeneous poission process(ENHPP). In this paper, exponential coverage and S-coverage model was reviewed, proposes the exponentiated exponential coverage reliability model, which maked out efficiency substituted for gamma and Weibull model(2 parameter shape illustrated by Gupta and Kundu(2001). In this analysis of software failure data, algorithm to estimate the parameters used to maximum likelihood estimator and bisection method, model selection based on SSE statistics for the sake of efficient model, was employed.
#Test Coverage #Enhanced Non-homogeneous Poission Process #Exponentiated Exponential Distribution #Sum of the Squared Errors

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