Illumination Assisted Negative Bias Temperature Instability Degradation in Low-Temperature Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors

Lin ,  Chia-Sheng ,  Chen 외 9명

한국정보디스플레이학회 International Meeting

2009 .01

NBTI 조건에서 양자 효과가 고려된 Si-SiO₂ 계면 트랩 형성모델을 사용한 pMOSFET 소자 열화 시뮬레이션

최성욱 ,  백창기 ,  박수영 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2009 .07

A Power Grid Optimization Algorithm Considering Timing Degradation by NBTI

Masahi ,  o Fukui ,  Yo 외 2명

대한전자공학회 ISOCC

2011 .11

게이트 산화막 어닐링을 이용한 서브 마이크론 PMOS 트랜지스터의 NBTI 향상

김영민

전기전자재료학회논문지

2003 .01

NBTI 노화 효과를 고려한 헤더 기반의 파워게이팅 구조

김경기

전자공학회논문지-SD

2012 .02

Decoupled Plasma Nitridation 공정 적용을 통한Negative Bias Temperature Instability 특성 개선

노용한 ,  박호우

전기전자재료학회논문지

2005 .01

초기 미세조직에 따른 NbTi 초전도 선재의 임계전류밀도 분석

김희락 ,  오영석 ,  김세종 외 4명

한국소성가공학회 학술대회 논문집

2019 .10

RF Sputtering법에 의한 NbTi박막 제조연구

김봉서 ,  우병철 ,  하동우 외 2명

대한전기학회 학술대회 논문집

1994 .11

Excimer Laser Annealing 결정화 방법 및 고유전게이트 절연막을 사용한 poly-Si TFT의 특성

이우현 ,  조원주

전기전자재료학회논문지

2008 .01

고자장 MRI 마그네트를 위한 NbTi 초전도 접합 공정 연구

하동우 ,  오상수 ,  하홍수 외 4명

한국초전도저온공학회 학술대회

2002 .01

Identification of Interface States and Shallow and Deep Hole Traps under NBTI Stress using Fast, Normal, and Charge-pumping Measurement Techniques

Sung-Kyu Kwon ,  Sun-Ho Oh ,  Hyeong-Sub Song 외 3명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2018 .04

Reliability Characteristics by the NBTI stress in Ultra-thin Gate p-MOSFET

Yong-Jae Lee ,  Il-Soon Bae ,  Jong-Hyung Lee 외 1명

INTERNATIONAL CONFERENCE ON FUTURE INFORMATION & COMMUNICATION ENGINEERING

2009 .06

Effective ELA for Advanced Si TFT System on Insulator

Noguchi ,  Takashi

한국정보디스플레이학회 International Meeting

2006 .01

NbTi 초전도 접합 조건 변화에 따른 임계전류 특성 향상 연구

하동우 ,  심기덕 ,  장현만 외 4명

대한전기학회 학술대회 논문집

2000 .07

Reliability Aging of Oxide Integrity on Low Temperature Polycrystalline Silicon TFTs

Chen ,  Chih-Chiang ,  Hung 외 5명

한국정보디스플레이학회 International Meeting

2002 .01

Cu-Nb-NbTi로 결합된 이종소재의 인발가공 특성 연구

김효성 ,  이광진 ,  임재덕 외 1명

한국소성가공학회 학술대회 논문집

2016 .10

A single-clock-driven gate driver using p-type, low-temperature polycrystalline silicon thin-film transistors

Kim ,  Kang-Nam ,  Kang 외 11명

Journal of information display

2011 .01

NbTi 관내 3연선 도체의 안정성

장현만 ,  오상수 ,  하동우 외 5명

대한전기학회 학술대회 논문집

1998 .07

An Accurate Gate-level Stress Estimation for NBTI

Sangwoo Han ,  Junho Lee ,  Byung-Su Kim 외 1명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2013 .04

열간압연 온도와 NbTi 초전도 선재의 임계전류밀도 상관 관계 분석 연구

김희락 ,  오영석 ,  김세종 외 3명

한국소성가공학회 학술대회 논문집

2019 .05