Illumination Assisted Negative Bias Temperature Instability Degradation in Low-Temperature Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors

Lin, Chia-Sheng; Chen, Ying-Chung; Chang, Ting-Chang; Hsu, Wei-Che; Chen, Shih-Ching; Li, Hung-Wei

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저자정보: Lin, Chia-Sheng (Depart. of Electrical Engineering, National Sun Yat-Sen University) Chen, Ying-Chung (Depart. of Electrical Engineering, National Sun Yat-Sen University) Chang, Ting-Chang (Depart. of Physics, National Sun Yat-Sen University) Hsu, Wei-Che (Depart. of Physics, National Sun Yat-Sen University) Chen, Shih-Ching (Depart. of Physics, National Sun Yat-Sen University) Li, Hung-Wei (Depar. t of Photonics & Institute of Electro-Optical Engineering, National Chiao Tung University)

저널정보: 한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2009년도 9th International Meeting on Information Display

발행연도: 2009.1

수록면: 550 - 552 (3page)

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The negative bias temperature instability on LTPS TFTs in a darkened and an illuminated environment was investigated. Experimental results reveal that the generation of interface state density showed no change between the different NBTI stresses. The degradation of the grain boundary trap under illumination was more significant than for the darkened environment.

#List NBTI #LTPS

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Chen, Ying-Chung

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Chen, Shih-Ching

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Li, Hung-Wei

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