The Effects of Plasma Pre-treatment on the Structural and Optical Properties of ZnO Thin Films Grown on the Flexible Substrate by Atomic Layer Deposition

허주회; 이재엽; 신창미; 이태민; 박주현; 류혁현

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자료유형: 학술대회자료

저자정보: 허주회 (인제대학교 나노시스템공학과) 이재엽 (인제대학교 나노시스템공학과) 신창미 (인제대학교 나노시스템공학과) 이태민 (인제대학교 나노공학부) 박주현 (인제대학교 나노공학부) 류혁현 (인제대학교 나노공학부)

저널정보: 한국재료학회 한국재료학회 학술발표대회 한국재료학회 2009년도 추계학술발표대회

발행연도: 2009.1

수록면: 502 - 502 (1page)

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ZnO 는 상온에서 3.37eV의 넓은 밴드갭과 60 meV의 엑시톤 결합에너지를 가지는 직접형 반도체로서 높은 투과성, 저가의 재료비, 비독성, 친환경적인 재료로서 발광다이오드, 디스플레이 응용분야 등 많은 부분에서 관심을 받고 있다. 유리 기판은무겁고 쉽게 깨지는 특성에도 불구하고 디스플레이 응용분야에서 폭넓게 사용되고 있으나 많은 연구자들은 이러한 문제점들을 해결하기 위해 플렉서블 기판위에서의 ZnO 성장 연구를 진행하고 있다 ZnO를 성장시키는 방법에는 molecular beam epitaxy (MEB), chemical vapordeposition (CVD), 그리고 atomic layer deposition (ALD)등많은 방법들이 있다. 이 연구에서 우리는 플렉서블기판의 플라즈마 전처리에 따른 ZnO의 구조적 그리고 광학적 특성에 대해 연구하였다. ZnO는 ALD 방법에 의해 성장되었고 반응물로는 temperature controlled bath 속에서 $10^{\circ}C$와 $30^{\circ}C$로 각각 온도를 유지시킨 diethylzinc (DEZn)과 distilled water ($H_2O$)를 사용하였다. 성장된 ZnO의 표면 morphology는atomic force microscope (AFM) 과 scanning electron microscope (SEM)으로 측정하였고, 광학적, 구조적특성은 Photoluminescence (PL)와 X-ray diffraction (XRD) 방법으로 각각으로 측정 되었다.

#ZnO #flexible

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