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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 저널정보
- 한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2009년도 9th International Meeting on Information Display
- 발행연도
- 2009.1
- 수록면
- 374 - 377 (4page)
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The characteristics of the deposited thin films of the zinc oxide (ZnO) at different oxygen pressures will be elucidated in this work. The resistivity of ZnO thin films were dominated by the carrier concentration under high oxygen pressure conditions while controlled by the carrier mobility at low oxygen ambiences. In addition, we will show the characteristics of the transparent ZnO based thin film transistor (TFT) fabricated at a full room temperature process with gate dielectric of gadolinium oxide ($Gd_2O_3$) thin films.
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