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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2004.1
- 수록면
- 1,258 - 1,261 (4page)
이용수
이 논문의 연구 히스토리 (2)
2004
Comparison of Degradation Phenomenon in the Low-Temperature Polysilicon Thin-Film Transistors with Different Lightly Doped Drain Structures
Lee
,
Seok-Woo
,
Kang
외 15명
한국정보디스플레이학회 International Meeting
2004.01
학술대회자료
Effects of $H_2$ vs. $O_2$ Plasma Pretreatment of Gate Oxide on the Degradation Phenomenon of Low-Temperature Polysilicon Thin-Film Transistors
Lee
,
Seok-Woo
,
Kang
외 13명
한국정보디스플레이학회 International Meeting
2004.01
학술대회자료
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Degradation phenomenon in the low-temperature polysilicon (LTPS) thin-film transistors (TFTs) with different junction structures was investigated. A gate-overlapped lightly doped drain (GOLDD) structure showed better hot-carrier stress (HCS) stability than a conventional LDD one. On the other hand, high drain current stress (HDCS) at $V_{gs}$ = $V_{ds}$ conditions caused much severe device degradation in the GOLDD structure because of its higher current level resulting in the higher applied power. It is suggested that self-heating-induced mobility degradation in the GOLDD TFFs be suppressed for using this structure in short-channel devices.
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REDUCTION OF SATURATED TRANSCONDUCTANCE IN LDD ( LIGHTLY DOPED DRAIN ) MOSFETS
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1988 .01
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한국정보디스플레이학회 International Meeting
2005 .01
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Polysilicon TFT의 파라미터 추출 ( Parameter Extraction for the Polysilicon Thin Film Transistors )
대한전자공학회 학술대회
1991 .11
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2017 .04
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전기전자재료학회논문지
2002 .01
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대한전기학회 학술대회 논문집
1992 .07
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HOT-CARRIER-RELIABILITY STUDY FOR TRANSLATING AC STRESS DEGRADATION TO DC STRESS DEGRADATION
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1995 .01
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LDD MOSFET의 유효 채널길이의 새로운 측정법
전기학회논문지
1993 .07
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짧은 채널 LDD MOSFETS에서 게이트 전압에 의존하는 기생 저항 ( GATE-VOLTAGE DEPENDENT PARASITIC RESISTANCE IN SHORT CHANNEL LIGHTLY DOPED DRAIN ( LDD ) MOSFETS )
대한전자공학회 학술대회
1989 .11
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Electrical instabilities in p-channel polysilicon TFTs: role of hot carrier and self-heating effects
한국정보디스플레이학회 International Meeting
2007 .01
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Stability Enhancement of Polysilicon Thin-Film Transistors with A Source-tied-to-body
한국정보디스플레이학회 International Meeting
2005 .01
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