REDUCTION OF SATURATED TRANSCONDUCTANCE IN LDD ( LIGHTLY DOPED DRAIN ) MOSFETS

Myoung Bok Lee ,  Yoo Jong Lee ,  Jung Il Lee 외 1명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1989 .01

Carrier 의 속도포화에 따른 LDD NMOSFET의 Saturated Transconductance 감소 기구 ( Degradation Mechanism of Saturated Transconductance in LDD NMOSFET due to the Velocity Saturation of the Carrier )

이명복 ,  이정일 ,  강광남

대한전자공학회 학술대회

1989 .01

submicron LDD NMOSFET에서 back bias에 따른 transconductance 변화에 대한 연구

원명규 ,  구용서 ,  안철

대한전자공학회 학술대회

1999 .11

NMOSFET에서 LDD 영역의 전자 이동도 해석 ( Analysis of Electron Mobility in LDD Region of NMOSFET )

이상기 ,  황현상 ,  안재경 외 4명

전자공학회논문지-A

1996 .10

짧은 채널 LDD MOSFETS에서 게이트 전압에 의존하는 기생 저항 ( GATE-VOLTAGE DEPENDENT PARASITIC RESISTANCE IN SHORT CHANNEL LIGHTLY DOPED DRAIN ( LDD ) MOSFETS )

강광남 ,  김동명 ,  이명복 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1989 .11

LDD MOSFET의 유효 채널길이 측정법에 관한 연구

박근영 ,  허윤종 ,  이계신 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

1992 .07

서브마이크론 LDD NMOSFET의 핫캐리어 열화에 의한 유효채널길이의 증가 ( The Increase of the Effective Channel Length by the Hot-Carrier Degradation in Submicron LDD NMOSFETs )

이준표 ,  김재영 ,  강문상 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1995 .11

서브마이크론 LDD NMOSFET의 핫캐리어 열화에 의한 유효채널길이의 증가

이준표 ,  김재영 ,  강문상 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1995 .12

LDD MOSFET의 유효 채널길이의 새로운 측정법

許允宗 ,  金鍾寬 ,  成英權

전기학회논문지

1993 .07

Retrograde Boron 채널 LDD 구조의 0.1μm nMOSFET 소자 제작 ( Fabrication of 0.1μm Nmosfet's using Retrograde Boron Channel LDD Structure )

최영진 ,  박병국 ,  이종덕 외 4명

대한전자공학회 학술대회

1995 .11

Retrograde Boron 채널 LDD 구조의 0.1㎛ nMOSFET 소자 제작

최영진 ,  박병국 ,  이종덕

대한전자공학회 학술대회

1995 .12

Lightly Doped Drain 구조를 갖는 짧은 채널MOSFETs에서 Parasitic Resistance의 연구 ( A Study on the Parasitic Resistance of a Short Channel MOSFETs with a Lightly Doped Drain Structure )

이명복 ,  이정일 ,  윤경식 외 1명

전자공학회논문지-A

1991 .02

LDD NMOSFET에서 Hot Carrier 열화시 Device Lifetime에 관한 연구

고정욱 ,  김재영 ,  강문상 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

A Simple Model for Gate Voltage Dependence of the Drain Saturation Voltage in Short Channel MOSFET's with Lightly Doped Drains

J. I. Lee ,  M. B. Lee ,  K. N. Kang 외 1명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1991 .01

핫 캐리어 신뢰성 개선을 위한 새로운 LDD 구조에 대한 연구

장의구 ,  서용진 ,  김상용 외 1명

전기전자재료학회논문지

2002 .01

LDD NMOSFET 에서의 Hot-Carrier Trap에 의한 Series Resistance의 증가에 관한 연구 ( A Study on The Increase of Series Resistance Due To Hot-carrier Trap in LDD NMOSFET )

신덕준 ,  김재영 ,  강문상 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

LDD NMOSFET에서의 Hot-Carrier Trap에 의한 Series Resistance의 증가에 관한 연구

신덕준 ,  김재영 ,  강문상 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

δ - 도핑 NMOSFET 채널 내에서의 양자화 효과

문현기 ,  김현중 ,  이찬호

대한전자공학회 학술대회

2001 .06

PSG 막의 급속열처리 방법을 이용한 LDD - Nmosfet 의 구조 제작에 관한 연구 ( A Study on the Structure Fabrication of LDD - Nmosfet using Rapid Thermal Annealing Method of PSG Film )

류장열 ,  홍봉식

전자공학회논문지-A

1994 .12

LDD NMOSFET의 Hot-Carrier로 인한 전류열화 특성의 Analytic Model

구정석 ,  김영관 ,  권호엽 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1994 .01