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한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제18권 제8호
발행연도
2005.1
수록면
685 - 689 (5page)

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In the fabrication and design of MLCCs (Multilayer Ceramic Capacitors) with Ni inner electrode for medium and high voltage, reliability and dielectric breakdown mode have been investigated. For thickness of green sheet, the relationship between the rated voltage versus the thickness of green sheet. Increasing the thickness of green sheet increases the dielectric breakdown voltage. However, a practical limit to this linear relationship occurs at 30 um and above. As the thickness of green sheet increased, dielectric breakdown voltage and weibull coefficient is increased, but abruptly decrease at 30 um and 36 um. When 24 um of green sheet thickness, weibull coefficient and dielectric breakdown voltage were 13.58 and 70 V/um respectively. The results enabling the MLCCs to demonstrate high levels of reliability at medium and high voltage.

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