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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 저널정보
- 한국전기전자재료학회 Transactions on Electrical and Electronic Materials Transactions on Electrical and Electronic Materials 제10권 제1호
- 발행연도
- 2009.1
- 수록면
- 5 - 8 (4page)
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The reliability of multilayer ceramic capacitor with active thin dielectric layer was investigated by highly accelerated life test at various stress condition. The distribution of multilayer ceramic capacitor failure times is plotted as a function of time from Weibull distribution function. According to the test result, voltage acceleration factor is obtained from 2.24 to 2.96. The acceleration by temperature is much higher than other values of active thick dielectric layer. It is clear that median time to failure is affected by the stress voltage for high volumetric efficiency ceramic capacitors with active thin dielectric layer. The degradation under stress of voltage involves electromigration and accumulation of oxygen vacancy at Ni electrode interface of cathode.
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