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한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제22권 제4호
발행연도
2009.1
수록면
314 - 317 (4page)

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This paper describes the temperature characteristics of polycrystalline 3C-SiC micro resonators. The 1.2 ㎛ and 0.4 ㎛ thick polycrystalline 3C-SiC cantilever and doubly clamped beam resonators with 60 ~ 100 ㎛ lengths were fabricated using a surface micromachining technique. Polycrystalline 3C-SiC micro resonators were actuated by piezoelectric element and their fundamental resonance was measured by a laser vibrometer in vacuum at temperature range of 25 ~ 200 ℃. The TCF(Temperature Coefficient of Frequency) of 60, 80 and 100 ㎛ long cantilever resonators were -9.79, -7.72 and -8.0 ppm/℃. On the other hand, TCF of 60, 80 and 100 ㎛ long doubly clamped beam resonators were -15.74, -12.55 and -8.35 ppm/℃. Therefore, polycrystalline 3C-SiC resonators are suitable with RF MEMS devices and bio/chemical sensor applications in harsh environments.

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