메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색
질문

논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
Hyun-Soo Lee (Electronics and Telecommunications Research Institute) Dong Yun Jung (Electronics and Telecommunications Research Institute) Youngrak Park (Electronics and Telecommunications Research Institute) Hyun-Gyu Jang (Electronics and Telecommunications Research Institute) Hyung-Seok Lee (Electronics and Telecommunications Research Institute) Chi-Hoon Jun (Electronics and Telecommunications Research Institute) Junbo Park (Electronics and Telecommunications Research Institute) Jae Kyoung Mun (Electronics and Telecommunications Research Institute) Sang-Ouk Ryu (Electronics and Telecommunications Research Institute) Sang Choon Ko (Electronics and Telecommunications Research Institute) Eun Soo Nam (Electronics and Telecommunications Research Institute)
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.17 No.3
발행연도
2017.6
수록면
354 - 362 (9page)

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

초록· 키워드

오류제보하기
We investigated the improvement in electrical characteristics of large AlGaN/GaN on Si Schottky barrier diode (SBD) induced by structural change to achieve a better trade-off between the forward and reverse performance to obtain high power conversion efficiency in PFC converter. Using an optimized dry etch condition for a large device, we fabricated three-types of SBD with 63 mm channel width: conventional, recessed, recessed dual-anodemetal SBD. The recessed dual-anode-metal SBD exhibited a very low turn-on voltage of 0.34 V, a high forward current of 1.63 A at 1.5 V, a leakage current of 114 ㎂ at -15 V, a breakdown voltage of 794 V.

목차

Abstract
Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. DEVICE FABRICATION
Ⅲ. RESULTS AND DISCUSSION
Ⅳ. CONCLUSION
REFERENCES

참고문헌 (19)

참고문헌 신청

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

이 논문과 함께 이용한 논문

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2018-569-001033979