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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 1995.12
- 수록면
- 503 - 506 (4page)
이용수
이 논문의 연구 히스토리 (2)
1995
Hot carrier에 의해 열화된 MOSFET에서 Inverse narrow-width 효과 및 기생 다이오드의 생성
정훈
,
박상일
,
정진세
외 1명
대한전자공학회 학술대회
1995.12
학술대회자료
Hot carrier에 의해 열화된 MOSFET에서 Inverse narrow-width 효과 및 기생 다이오드의 생성 ( Inverse Narrow-Width Effect and Parasitic Diode Generation of MOSFET due to Hot Carrier Effects )
정훈
,
박상일
,
정진세
외 1명
대한전자공학회 학술대회
1995.11
학술대회자료
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목차
Abstract
I. 서론
II. 본론
III. 결론
참고문헌
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1996 .07
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ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1993 .01
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전력 MOSFET
전기의세계
1985 .05
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전기학회논문지
1998 .03
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전자공학회논문지-A
1993 .02
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이 논문의 저자 정보
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