나노 구조 MOSFET의 스켈링에 대한 특성 분석

장광균 ,  정학기 ,  이종인

한국정보통신학회논문지

2001 .06

Hot Carrier Degradation of MOSFETs

Hisao Katto

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

전력 MOSFET

崔然益

전기의세계

1985 .05

나노채널 MOSFET의 문턱전압분석

정정수 ,  김재홍 ,  고석웅 외 2명

한국정보통신학회논문지

2002 .02

스트레스에 의한 핫-전자가 유기된 p-MOSFET 의 게이트 산화 막 두께 변화의 열화 ( 열화 ) 의 특성 분석 ( Degradation Characteristics of Hot-Electron-Induced p-MOSFET`s GateOxide Thickness Variations by Stress )

이용재

전자공학회논문지-A

1994 .01

전력 MOSFET 소자의 γ선 영향

손주형 ,  김재환 ,  노영환

제어로봇시스템학회 각 지부별 자료집

2004 .11

드레인 전압변화 스트레스에 의한 P-MOSFET의 열화 특성 ( Degradation Characteristics of p-MOSFET's by Various Drain Voltage stress )

정연식 ,  권상수 ,  이용재

대한전자공학회 학술대회

1994 .01

CAD를 위한 간단한 MOSFET Model ( Simple MOSFET Model for Computer-Aided Design )

방대성 ,  이광형

대한전자공학회 학술대회

1985 .01

경계요소법을 이용한 MOSFET Modeling ( MOSFET Modeling using Boundary element Method )

박화식 ,  황호정

대한전자공학회 학술대회

1985 .01

전력 MOSFET

김종오

전기의세계

1988 .05

Hot carrier에 의한 GAA MOSFET의 열화현상

최락종 ,  이병진 ,  장성준 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2002 .06

MOSFET 기생성분 모델링

최용해 ,  김기철 ,  김병성

대한전자공학회 학술대회

1999 .11

Si_1-xGe_x p-MOSFET 단채널효과의 해석학적 모델

남성진 ,  정윤하

대한전자공학회 학술대회

1995 .12

MOSFET의 1/F 잡음에 관한 실험적 고찰

김응동

대한전자공학회 학술대회

1994 .01

이중 확산 MOSFET의 C-V 특성

배동건 ,  정상구 ,  최한묵 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .12

이중 확산 MOSFET의 C-V특성 ( C-V Characteristics of Double diffused MOSFET )

최한묵 ,  배동건 ,  정상구 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .01

박막 게이트 산화막의 열화에 의해 나타나는 MOSFET의 특성 변화

이재성 ,  이원규

대한전자공학회 학술대회

2003 .07

동작-스트레스에 의한 P-Mosfet에서 핫-캐리어 효과 ( Hot-Carrier Effects in P-MOSFET's by on-Stress )

정연식 ,  권상수 ,  임재우 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

1994 .01

동작-스트레스에 의한 p-MOSFET에서 핫-캐리어 효과

정연식 ,  권상수 ,  임재우 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

1994 .07

Hot-carrier 현상을 이용한 n-MOSFET의 동작수명 측정 ( Measurement of n-MOSFETs Lifetime using Hot-carrier induced Degradation )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1987 .11