Negative-bias Temperature Instability 및 Hot-carrier Injection을 통한 중수소 주입된 게이트 산화막의 신뢰성 분석

이재성

전기전자재료학회논문지

2008 .01

Metallization

최성현

대한전자공학회 단기강좌

1982 .01

Post-Metallization Annealing 시 passivation 막이 나노 NMOSFET 용 I/O 소자의 핫-캐리어 특성에 미치는 영향

유욱상 ,  한인식 ,  주한수 외 10명

대한전자공학회 학술대회

2006 .11

Suppression of Gate Oxide Degradation for MOS Devices Using Deuterium Ion Implantation Method

이재성

Transactions on Electrical and Electronic Materials

2012 .01

긴 채널 NMOSFET에 대한 통합 전류-전압 ( A Unified Current-Voltage Model for Long Channel NMOSFET's )

박찬광 ,  이창열 ,  이귀로 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1990 .01

Sputtering과 Metallization

김민선 ,  윤능구

섬유기술과 산업

2009 .01

δ - 도핑 NMOSFET 채널 내에서의 양자화 효과

문현기 ,  김현중 ,  이찬호

대한전자공학회 학술대회

2001 .06

NMOSFET에서 핫-캐리어 내성의 소자 개발

김현호 ,  김현기 ,  우경환 외 3명

대한전자공학회 학술대회

2002 .06

New process for the Magnesium Metallization

And ,  eas Dietz

한국표면공학회 학술발표회 초록집

2008 .06

RTO 성장과 0.15mm NMOSFET에의 적용 ( Application of Ultra-Thin Rapid Thermal Oxide to 0.15mm NMOSFET )

허연철 ,  박병국 ,  이종덕

대한전자공학회 워크샵

1996 .01

인듐을 채널 도펀트로 사용한 0.1㎛ nMOSFET에 관한 연구

송기환 ,  유태종 ,  박병국 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1995 .12

인듐을 채널 도펀트로 사용한 0.1μm nMOSFET에 관한 연구 ( A Study on 0.1μm nMOSFETs with Indium Implanted Channel )

송기환 ,  유태종 ,  박병국 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1995 .11

Hydrodynamic 방정식을 이용한 짧은 채널 Nmosfet의 풀이 방법 ( A Numerical Simulation on the Short Channel nMOSFET using Hydrodynamic Equations )

이창열 ,  이귀로

대한전자공학회 학술대회

1991 .01

온도 증가에 따른 nMOSFET의 Hot carrier effect 변화 ( Hot carrier effect of nMOSFET's at elevated temperatures )

원명규 ,  김도형 ,  안철

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

온도 증가에 따른 nMOSFET의 Hot carrier effect 변화

원명규 ,  김도형 ,  안철

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

NMOSFET의 반전층 양자 효과에 관한 연구

朴志宣 ,  申炯淳

전기학회논문지 C

2002 .09

Metal Plasma-Etching Damages of NMOSFETs with Pure and N₂O Gate Oxides

Jae-Seog Yoon ,  Chang-Wu Hu

한국정보통신학회논문지

1999 .06

비대칭 소오스 / 드레인을 갖는 NMOSFET의 전기적 특성 ( Electrical Characteristics of NMOSFET's with Asymmetric Source / Drain Region )

공동욱 ,  이재성 ,  이용현

대한전자공학회 학술대회

1998 .11

비대칭 소오스/드레인을 갖는 NMOSFET의 전기적 특성

공동욱 ,  이재성 ,  이용현

대한전자공학회 학술대회

1998 .11

Metallization Technology in DRAM

T. Taniguchi ,  H. Yagi ,  M. Kanazawa

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1995 .01