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이용수
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 서브 마이크론 소자에서 핫-캐리어 효과
Ⅲ. 소자의 측정 및 결과
Ⅳ. 결론
참고문헌
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온도 증가에 따른 nMOSFET의 Hot carrier effect 변화
대한전자공학회 학술대회
1998 .06
온도 증가에 따른 nMOSFET의 Hot carrier effect 변화 ( Hot carrier effect of nMOSFET's at elevated temperatures )
대한전자공학회 학술대회
1998 .07
소자 분야 - Hot carrier에 의한 RF NMOSFET의 성능저하에 관한 연구
전자공학회논문지-D
1998 .10
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대한전자공학회 학술대회
1998 .01
Hot Carrier Burn-In을 사용한 NMOSFET Lifetime 향상 ( Improvement of NMOSFET Lifetime Using Hot Carrier Burn-In )
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대한전기학회 학술대회 논문집
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1990 .01
δ - 도핑 NMOSFET 채널 내에서의 양자화 효과
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2001 .06
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Hot carrier 효과에 의한 단채널 금속 게이트/High-k 절연막 nMOSFET의 고주파 특성 열화
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1997 .11
Hot-Carrier Degradation Characteristics in Body-Contacted SOI nMOSFETs
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1997 .01
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2008 .11
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1996 .01
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인듐을 채널 도펀트로 사용한 0.1㎛ nMOSFET에 관한 연구
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