두께 변화에 따른 Gate Oxide의 전기적 특성

박정구 ,  홍능표 ,  이용우 외 2명

대한전기학회 학술대회 논문집

1999 .07

High-Quality Vector Graphics Using Open VG

Hwanyong LEE

한국정보과학회 컴퓨터그래픽스연구회 학술대회 논문집

2007 .10

VTS시스템 상태관리시스템 개발에 관한 연구

김용균 ,  이병길

한국통신학회 학술대회논문집

2016 .06

국내 해상교통관제센터의 요구사항 분석을 통한 차세대 VTS의 항행지원 서비스 시나리오

김주영 ,  최중용 ,  나중찬 외 2명

한국통신학회논문지

2013 .05

240 ㎸ 고전압 변성기 국가표준 시스템 구축

鄭在甲 ,  權聖遠 ,  李相和 외 5명

전기학회논문지 P

2008 .06

Accurate RF C-V Method to Extract Effective Channel Length and Parasitic Capacitance of Deep-Submicron LDD MOSFETs

Sangjun Lee ,  Seonghea ,  n Lee

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2015 .12

Extraction of Exact Layer Thickness of Ultra-thin Gate Dielectrics in Nanoscaled CMOS under Strong Inversion

Munmun Dey ,  Sanatan Chattopadhyay

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2010 .06

a-IGZO TFT의 다양한 PBS 조건에 따른 신뢰성 분석

강하라 ,  장준태 ,  최성진 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2015 .06

Ti-Ploycide 게이트에서 게이트산화막의 전연파괴특성

고종우 ,  고종우 ,  고종우 외 3명

한국재료학회지

1993 .01

박막 MOS 구조내의 깊은 공핍층 Mode에 의한 Fowler-Nordheim 1-Vg and C-V 특성 ( Fowler-Nordheim I-Vg and C-V Characteristics Due to Deep Depletion Mode in Thin Gate-Oxide MOS Structures )

오석주

대한전자공학회 학술대회

1989 .01

자동차용 친환경 VG 터보차저 기술

박중호

기계저널

2007 .12

저전력 CMOS회로를 위한 VGS-VTH 스케일링 ( VGS-VTH scaling for low power CMOS circuit )

강대관 ,  박영준 ,  민홍식

전자공학회논문지-A

1996 .03

Compact Gate Capacitance Model with Polysilicon Depletion Effect for MOS Device

H. Abebe ,  H. Mo ,  is 외 5명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2007 .09

양자 현상을 고려한 나노미터 스케일 MuGFETs의 C-V 특성

윤세레나 ,  유종근 ,  박종태

전자공학회논문지-SD

2008 .11

Planar MOSFET에서 측정을 통한 기생 커패시턴스 추출 방법

전상빈 ,  유성원 ,  고형우 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2015 .11

A Compact Quantum Model for Cylindrical Surrounding Gate MOSFETs using High-k Dielectrics

P. Vimala ,  N. B. Balamu ,  ugan

Journal of Electrical Engineering & Technology

2014 .03

Development of Low-Vgs N-LDMOS Structure with Double Gate Oxide for Improving Rsp

정우양 ,  이근만

Transactions on Electrical and Electronic Materials

2009 .01

Comparative Study on the Structural Dependence of Logic Gate Delays in Double-Gate and Triple-Gate FinFETs

Kwan Young Kim ,  Jae Man Jang ,  Dae Youn Yun 외 2명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2010 .06